NI第十五屆圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)征文競(jìng)賽全面啟動(dòng)
美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI) “第十五屆圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)征文競(jìng)賽”已于近日正式啟動(dòng)。此次大賽針對(duì)所有使用NI產(chǎn)品的用戶,旨在進(jìn)一步推動(dòng)圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)在國(guó)內(nèi)的發(fā)展和應(yīng)用,使更多的工程師們能更快更好地開(kāi)發(fā)符合特定要求的測(cè)控應(yīng)用。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/275760.htm從2000年開(kāi)始,該活動(dòng)已經(jīng)成功舉辦了十四屆,得到廣大NI新老用戶的熱情支持,每年都收集到數(shù)量眾多的優(yōu)秀創(chuàng)新應(yīng)用方案,使得大賽獲獎(jiǎng)應(yīng)用方案文集備受青睞?;顒?dòng)一旦正式報(bào)名參與,即有獎(jiǎng)勵(lì)。入圍決賽者更將有機(jī)會(huì)獲得豐厚的獎(jiǎng)金、超值產(chǎn)品升級(jí)與培訓(xùn)獎(jiǎng)勵(lì),以及免費(fèi)參加 NIDays技術(shù)盛會(huì)的機(jī)會(huì)。決賽獲獎(jiǎng)文章還將發(fā)表在權(quán)威期刊《儀器儀表學(xué)報(bào)》增刊上 。
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