一種數(shù)字IC測試系統(tǒng)的設計

摘  要： 給出一種數(shù)字集成電路(IC)測試系統(tǒng)的軟硬件設計方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結構，可測試寬范圍電平。

關鍵詞： 數(shù)字集成電路測試；功能測試

隨著數(shù)字集成電路IC的廣泛應用，測試系統(tǒng)就顯得越來越重要。在網(wǎng)絡化IC可靠性試驗及測試系統(tǒng)項目中，需要檢驗某些具有寬電平范圍的軍用數(shù)字IC芯片，而市場上常見的中小型測試系統(tǒng)可測電平范圍達不到要求，而大型測試系統(tǒng)價格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數(shù)字IC測試系統(tǒng)，可測電平范圍達