電壓比較器VIO的開環(huán)測試 作者: 時間:2005-05-11 來源: 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù),GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時,兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(DUT,Device Under Test)-輔助運(yùn)放”的測試模式,測試原理圖見圖1。 在輔助運(yùn)放A的作用下,整個系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò),從而使VD=0,則 VC = -VS1
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