電力電子器件的緩沖電路
1、 緩沖電路的作用與基本類型
電力電子器件的緩沖電路(snubber circuit)又稱吸收電路,它是電力電子器件的一種重要的保護(hù)電路,不僅用于半控型器件的保護(hù),而且在全控型器件(如GTR、GTO、功率MOSFET和IGBT等)的應(yīng)用技術(shù)中起著重要的作用。
晶閘管開通時,為了防止過大的電流上升率而燒壞器件,往往在主電路中串入一個扼流電感,以限制過大的di/dt,串聯(lián)電感及其配件組成了開通緩沖電路,或稱串聯(lián)緩沖電路。晶閘管關(guān)斷時,電源電壓突加在管子上,為了抑制瞬時過電壓和過大的電壓上升率,以防止晶閘管內(nèi)部流過過大的結(jié)電容電流而誤觸發(fā),需要在晶閘管的兩端并聯(lián)一個RC網(wǎng)絡(luò),構(gòu)成關(guān)斷緩沖電路,或稱并聯(lián)緩沖電路。
GTR、GTO等全控型自關(guān)斷器件在實際使用中都必須配用開通和關(guān)斷緩沖電路;但其作用與晶閘管的緩沖電路有所不同,電路結(jié)構(gòu)也有差別。主要原因是全控型器件的工作頻率要比晶閘管高得多,因此開通與關(guān)斷損耗是影響這種開關(guān)器件正常運行的重要因素之一。例如,GTR在動態(tài)開關(guān)過程中易產(chǎn)生二次擊穿的現(xiàn)象,這種現(xiàn)象又與開關(guān)損耗直接相關(guān)。所以減少全控器件的開關(guān)損耗至關(guān)重要,緩沖電路的主要作用正是如此,也就是說GTR和功率MOSFET用緩沖電路抑制di/dt和du/dt,主要是為了改變器件的開關(guān)軌跡,使開關(guān)損耗減少,進(jìn)而使器件可靠地運行。
圖1(a)是沒有緩沖電路時GTR開關(guān)過程中集電極電壓uCE和集電極電流iC的波形,由圖可見開通和關(guān)斷過程中都存在uCE和iC同時達(dá)到最大值的時刻;因此出現(xiàn)了瞬時的最大開關(guān)損耗功率Pon和Poff,從而危及器件的安全。所以,應(yīng)采用開通和關(guān)斷緩沖電路,抑制開通時的di/dt,降低關(guān)斷時的du/dt,使uCE和iC的最大值不會同時出現(xiàn)。
圖1(b)是GTR開關(guān)過程中的uCE和iC的軌跡,其中軌跡1和2是沒有緩沖電路的情況,開通時uCE由UCC(電源電壓)經(jīng)矩形軌跡降到0,相應(yīng)地iC由0升到ICM;關(guān)斷時iC由ICM經(jīng)矩形軌跡降到0,相應(yīng)地uCE由0升高到UCC。不但集電極電壓和電流的最大值同時出現(xiàn),而且電壓和電流都有超調(diào)現(xiàn)象,這種情況下瞬時功耗很大,極易產(chǎn)生局部熱點,導(dǎo)致GTR的二次擊穿而損壞。加上緩沖電路后,uCE和iC的開通與關(guān)斷軌跡分別如3和4所示,由圖可見,其軌跡不再是矩形,避免了兩者同時出現(xiàn)最大值的情況,大大降低了開關(guān)損耗,并且最大程度地利用于GTR的電氣性能。
GTR的開通緩沖電路用來限制導(dǎo)通時的di/dt,以免發(fā)生元件的過熱點,而且它在GTR逆變器中還起著抑制貫穿短路電流的峰值及其di/dt的作用。GTO的關(guān)斷緩沖電路不僅為限制GTO關(guān)斷時再加電壓的du/dt及過電壓,而且對降低GTO的關(guān)斷損耗,使GTO發(fā)揮應(yīng)有的關(guān)斷能力,充分發(fā)揮它的負(fù)荷能力起重要作用。{{分頁}}
IGBT的緩沖電路功能更側(cè)重于開關(guān)過程中過電壓的吸收與抑制,這是由于IGBT的工作頻率可以高達(dá)30~50kHz;因此很小的電路電感就可能引起頗大的LdiC/dt,從而產(chǎn)生過電壓,危及IGBT的安全。圖2(a)和圖2(b)是PWM逆變器中IGBT在關(guān)斷和開通中的uCE和iC波形。由圖2(a)可見,在iC下降過程中IGBT上出現(xiàn)了過電壓,其值為電源電壓UCC和LdiC/dt兩者的疊加。
圖2(b)為開通時的uCE和iC波形,圖中增長極快的iC出現(xiàn)了過電流尖峰iCP,當(dāng)iCP回落到穩(wěn)定值時,過大的電流下降率同樣會引起元件上的過電壓而須加以吸收(如圖所示)。逆變器中IGBT開通時出現(xiàn)尖峰電流,其原因是由于在剛導(dǎo)通的IGBT負(fù)載電流上疊加了橋臂中互補(bǔ)管上反并聯(lián)的續(xù)流二極管的反向恢復(fù)電流,所以在此二極管恢復(fù)阻斷前,剛導(dǎo)通的IGBT上形成逆變橋臂的瞬時貫穿短路,使iC出現(xiàn)尖峰,為此需要串入抑流電感,即串聯(lián)緩沖電路,或放大IGBT的容量。
綜上所述,緩沖電路對于工作頻率高的自關(guān)斷器件,通過限壓、限流、抑制di/dt和du/dt,把開關(guān)損耗從器件內(nèi)部轉(zhuǎn)移到緩沖電路中去,然后再消耗到緩沖電路的電阻上,或者由緩沖電路設(shè)法再反饋到電源中去。此緩沖電路可分為兩在類,前一種是能耗型緩沖電路,后一種是反饋型緩沖電路。能耗型緩沖電路簡單,在電力電子器件的容量不太大,工作頻率也不太高的場合下,這種電路應(yīng)用很廣泛。
2、 緩沖電路的基本結(jié)構(gòu)
緩沖電路的功能包括抑制和吸收二個方面。圖3(a)是這種電路的基本結(jié)構(gòu),串聯(lián)的LS用于抑制di/dt的過量,并聯(lián)的CS通過快速二極管DS充電,吸收器件上出現(xiàn)的過電壓能量,由于電容電壓不會躍變,限制了重加du/dt。當(dāng)器件開通時CS上的能量經(jīng)RS泄放。對于工作頻率較高、容量較小的裝置,為了減少損耗,可將圖3(a)的RLCD電路簡化為圖3(b)的形式。這種由RCD網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成的緩沖電路普遍用于GTR、GTO、電力MOSFET及IGBT等電力電子器件的保護(hù)。
圖4所示的幾種緩沖電路是上述基本RCD緩沖電路的簡化或演變。如圖4所示,既可用于逆變器中IGBT模塊的保護(hù),也適用于其他電子器件的緩沖保護(hù);但其性能有所不同。圖4(a)是最簡單的單電容電路,適用于小容量的IGBT模塊(10~50A)或其他容量較小的器件;但由于電路中有無阻尼元件,容易產(chǎn)生振蕩,為此CS中可串入RS加以抑制,這種RC緩沖電路在晶閘管的保護(hù)中已用得很普遍。圖4(b)是把RCD緩沖電路用于由兩只IGBT組成橋臂的模塊上,此電路比較簡單;但吸收功能較單獨使用RCD時略差,多用于小容量元件的逆變器橋臂上。有時還可以把圖4(a)、圖4(b)兩種緩沖電路并聯(lián)使用,以增強(qiáng)緩沖吸收的功能。圖4(c)是RS交叉連結(jié)的緩沖電路,當(dāng)器件開斷時,CS經(jīng)DS充電,抑制du/dt;當(dāng)器件開通前,CS經(jīng)電源和RS釋入電荷,同時有部分能量得到反饋,這種電路對大容量的器件,例如,400A以上的IGBT模塊比較適合。{{分頁}}
圖4(d)是大功率GTO逆變橋臂上的非對稱RLCD緩沖電路。圖4(d)中電感受LS經(jīng)過DS和RS釋放磁場能量。GTO開斷時,CS經(jīng)DS吸收能量并經(jīng)RS把部分能量反饋到電網(wǎng)上去;因此損耗較小,適用于大容量的GTO逆變器。圖4(c)和圖4(d)的功能類似,其CS具有吸收電能和電壓箝位雙重功能,且效率較高。
圖4(e)是三角形吸收電路,這里吸收電容C1~C3為三角形聯(lián)結(jié),在T1關(guān)斷時,并聯(lián)在T1兩端的總吸收電容量C3和C2串聯(lián)再和C1并聯(lián)后組成,即總電容量是 。這種電路的特點是:①3只電容器之間幾乎不需要連結(jié)線,所以寄生電感極?。虎谠陔娏﹄娮悠骷ぷ鬟^程中每只電容器都參予工作,電容器利用率高;③電路的損耗較小,日立公司曾在一定的條件下進(jìn)行試驗比較,這種電路的損耗約為RCD電路損耗的40%,因此我國研制中的CTO交流傳動電力機(jī)車逆變器也采用這種電路,其GTO的規(guī)格為3000A、4500V,吸收電容量為C1=C2=C3=18μF。
緩沖電路引線中的雜散電感L’S必須限制到最小,以防止電力電子器件在關(guān)斷時出現(xiàn)電壓尖峰,并消除雜散電感與緩沖電路中CS構(gòu)成諧振回路所產(chǎn)生的振蕩。圖5是以電感性負(fù)載中的GTO的緩沖電路為例,說明雜散電感L’S對關(guān)斷過程中陽極電壓產(chǎn)生尖峰電壓UP的影響。在陽極電流迅速下降時,隨著CS快速充電,L’S上所產(chǎn)生的L’SdiS/dt電勢加在GTO上;故L’S越大,UP越大,管耗Poff也越嚴(yán)重。此外,在感性負(fù)載下陽極電流下降率diA/dt與緩沖電路中的電流上升率diS/dt相等,故負(fù)載電流越大,下降越快,L’SdiS/d也越大,同樣會產(chǎn)生嚴(yán)重后果。所以緩沖電路中的R、C、D等元件也力求采用無感元件。
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