新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 市場分析 > 國內(nèi)IC測試業(yè):降低成本滿足主要芯片需求

國內(nèi)IC測試業(yè):降低成本滿足主要芯片需求

作者: 時間:2008-03-04 來源:SEMI 收藏

據(jù)中國電子報報道,測試設(shè)備在未來幾年內(nèi),應(yīng)滿足國內(nèi)高速、高密度、SoC、AS、大功率等芯片的測試要求,提高不同測試系統(tǒng)的速度、電流、電壓及多路并行等性能,以滿足國內(nèi)量大面廣的芯片的并行多器件快速測試需求。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/79600.htm

國產(chǎn)集成電路測試設(shè)備近年來雖有一定的發(fā)展,但由于我國集成電路產(chǎn)業(yè)的技術(shù)水平與國際發(fā)達(dá)國家相差很大,而長期以來又對集成電路測試重視不夠,其技術(shù)水平與國際先進(jìn)水平相比則差距進(jìn)一步拉大。國內(nèi)所用的高端測試設(shè)備完全依賴進(jìn)口,測試成為集成電路產(chǎn)業(yè)的短板。未來幾年內(nèi)測試設(shè)備應(yīng)滿足國內(nèi)高速、高密度、SoC(片上系統(tǒng))、AS(專用集成電路)、大功率等芯片的測試要求,提高不同測試系統(tǒng)的速度、電流、電壓及多路并行等性能,以滿足國內(nèi)量大面廣的IC(集成電路)芯片的并行多器件快速測試需求。

測試系統(tǒng)性能逐步提高

中國集成電路產(chǎn)業(yè)經(jīng)過多年的發(fā)展,有近50條5~12英寸的生產(chǎn)制造線,100多家各種形式的封裝、測試企業(yè),500多家集成電路設(shè)計公司,已形成了一個具有一定規(guī)模的設(shè)計、制造、封裝及測試四業(yè)并舉的產(chǎn)業(yè)鏈群體。

在這個產(chǎn)業(yè)鏈群體中,設(shè)計是整個產(chǎn)業(yè)鏈的龍頭,是自主創(chuàng)新和知識產(chǎn)權(quán)的具體體現(xiàn),它不僅引領(lǐng)集成電路技術(shù)和產(chǎn)品的發(fā)展,同時直接推動著整機(jī)產(chǎn)品的升級換代。制造居于產(chǎn)業(yè)鏈中的核心地位,近期發(fā)展迅速的DFI(可制造性設(shè)計技術(shù))就集中地體現(xiàn)了制造業(yè)的中堅作用。據(jù)了解,集成電路的微細(xì)加工技術(shù)是人類迄今為止所能達(dá)到的精度最高的加工技術(shù)。封裝是產(chǎn)業(yè)鏈后端的支柱,搭建了芯片與電子系統(tǒng)之間的橋梁。測試則是支撐整個產(chǎn)業(yè)發(fā)展的,是產(chǎn)業(yè)鏈中唯一貫穿于設(shè)計、制造、封裝全過程,而且形成產(chǎn)品后持續(xù)和長久地延伸到產(chǎn)品應(yīng)用全過程的產(chǎn)業(yè),在產(chǎn)業(yè)鏈條中獨具全程性、閉環(huán)性和產(chǎn)品應(yīng)用的社會性。

集成電路測試設(shè)備的技術(shù)水平是集成電路測試技術(shù)進(jìn)步的重要標(biāo)志,測試設(shè)備從測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路,設(shè)備水平從測試儀發(fā)展到大規(guī)模測試系統(tǒng)。現(xiàn)今測試系統(tǒng)已向高速、多管腳、多器件并行同測和SoC測試的方向發(fā)展。

國內(nèi)高端測試設(shè)備成空白

世界先進(jìn)的測試設(shè)備技術(shù),基本掌握在美國、日本等集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)達(dá)的國家,如美國泰瑞達(dá)(Teradyne)、惠瑞捷(Verigy)公司、日本愛德萬(Advantest)等世界著名公司。這些公司擁有先進(jìn)的集成電路測試技術(shù)、雄厚的資金,并占有全球集成電路測試設(shè)備市場的主要份額。這些國際著名大公司在各類大型高檔的集成電路測試設(shè)備上展開激烈的競爭,在競爭中不斷地發(fā)展和提高?,F(xiàn)在數(shù)字測試系統(tǒng)產(chǎn)品如ITS9000KX-800的最高測試速率已達(dá)800MHz、1536PIN,存儲器測試系統(tǒng)產(chǎn)品的并行測試數(shù)已達(dá)64。

目前國內(nèi)市場上各種型號國產(chǎn)測試儀,中小規(guī)模占80%,只有少數(shù)采用計算機(jī)輔助測試的設(shè)備可稱之為測試系統(tǒng),但由于價格、可靠性、實用性等因素導(dǎo)致銷售效果不佳。在高端測試設(shè)備方面仍是一片空白,國內(nèi)所用的高端測試設(shè)備完全依賴進(jìn)口,致使我國集成電路產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展不均衡,測試成為集成電路產(chǎn)業(yè)的短腿業(yè)。

測試設(shè)備要滿足主要芯片需求

國內(nèi)集成電路測試業(yè)的發(fā)展必須放眼世界,緊盯國內(nèi)市場,結(jié)合集成電路設(shè)計、制造的需求,研發(fā)出相應(yīng)配套的測試設(shè)備。根據(jù)市場分析及預(yù)測,近年來我國集成電路產(chǎn)業(yè)運行情況良好,產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)產(chǎn)銷兩旺的良好發(fā)展勢頭,產(chǎn)業(yè)步入高速增長的軌道。

由于IC生產(chǎn)線建設(shè)的市場需求拉動,預(yù)計2007~2011年這5年間,我國集成電路產(chǎn)業(yè)
銷售收入的年均復(fù)合增長率將達(dá)到 27.5%。到2011年,我國集成電路產(chǎn)業(yè)銷售收入將突破3000億元,達(dá)到3392.3億元。

在IC銷售收入中其主要產(chǎn)品為計算機(jī)、消費電子、網(wǎng)絡(luò)通信、汽車電子、電源電路等。因此在集成電路產(chǎn)業(yè)迅猛發(fā)展的大環(huán)境下,測試設(shè)備在未來幾年內(nèi),應(yīng)滿足國內(nèi)的高速、高密度、SoC、ASIC、大功率等芯片的測試要求,并引入新技術(shù)、使用新器件,以提高不同測試系統(tǒng)的速度、電流、電壓及多路并行等性能,實現(xiàn)測試系統(tǒng)的高速、高密度、大電流、高電壓、通用性,以滿足國內(nèi)量大面廣的IC芯片的并行多器件快速測試需求。

因此,我們要根據(jù)不同需求,研制各種適合國情的專用測試設(shè)備,以降低設(shè)備成本,降低IC芯片的測試成本,使國產(chǎn)測試設(shè)備能覆蓋國內(nèi)主要類別的IC芯片。其次,我們要針對數(shù)?;旌想娐?,提高設(shè)備的測試速率,增加測試通道。我們還要針對半導(dǎo)體器件,提高測試設(shè)備的電流、電壓指標(biāo);提高各種類型測試設(shè)備的并測能力,提高測試效率。最后,測試設(shè)備還應(yīng)具有靈活性、擴(kuò)展性、易升級、易維護(hù)的性能。



關(guān)鍵詞: IC

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉