合成儀器技術(04-100)
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在測量通路中，下變頻器功能單元也許是最關鍵的元件。下變頻器必須提供頻率變換/濾波功能，通過混頻和濾波組合正確地再生目標基帶信號，此信號被調(diào)制在微波載波信號。若下變頻器的變換喪失，則就不能精確地測定、設計和控制IF濾波和相關相位特性，不能適當?shù)赜葾/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化和分析IF信號，而且DSP軟件將給出錯誤的結(jié)果。接收或測量處理通路中的A/D轉(zhuǎn)換器是連續(xù)模擬和分立數(shù)字域之間的接口。ADC的工作范圍往往是所執(zhí)行測量性能的限制因素。在激勵或上變頻器通路，上變頻信號的精確度依賴于所用D/A的帶寬和動態(tài)范圍。
從早期電子儀器復興開始，測試測量業(yè)經(jīng)受巨大變化。在過去60年內(nèi)研制出針對商業(yè)和軍事市場測試測量信號的各種各樣的儀器。傳統(tǒng)儀器(如數(shù)字多用表、電子計數(shù)器、示波器、功率器、函數(shù)發(fā)生器和網(wǎng)絡分析儀)以其本身特點出現(xiàn)在市場上。每種儀器都用專門和/或稍微不同的激勵/測量電路和技術設計。這種傳統(tǒng)的方法主要依賴于由專門硬件實現(xiàn)的儀器激勵/或測量能力。
除了這些儀器前端的通用性外，很難看到激勵/測量技術的再用。硬件的頂層是嵌入式軟件層(通常連接到原來設計的目標嵌入式控制器)。嵌入式軟件的頂層是應用軟件，其大多數(shù)的部分功能如同圖像用戶接口(GUI)或已定標/換算/轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的顯示。
基于SI的ATS(自動測試系統(tǒng))變成完全顛倒的傳統(tǒng)模型(見圖3)。合成硬件結(jié)構(gòu)由標準硬件(信號調(diào)理、上變頻器、下變頻器、DAC、ADC)組成，標準硬件與不受限制的DSP軟件結(jié)合工作。這種硬件減少，使系統(tǒng)定標的要求和成本最小，系統(tǒng)定標容易受SI激勵和測量通路中每個功能塊所具有的檢查方法和控制性的影響(見圖4)。
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