合成儀器技術(shù)(04-100)

　　同樣，SI報廢和更新問題只限少數(shù)模塊硬件，而不是大多數(shù)儀器都有。理想的SI系統(tǒng)，每個硬件元件不應(yīng)該用專用固件，這使得每個硬件元件容易與相同功能的其他元件互換和更新。SI大部分是軟件。主機/中央處理器的激勵和測量軟件使SI結(jié)構(gòu)具有簡單性和靈活性，這使SI基系統(tǒng)具有現(xiàn)場反應(yīng)力。由ATS激勵和測量軟件產(chǎn)生的SI硬件所具有的獨立性和非耦合性對于ATS開發(fā)者來說能大大地減輕負(fù)擔(dān)而且使用戶軟件密集的ATS系統(tǒng)不必尊從商業(yè)PC處理器速度/性能增益曲線。

　　關(guān)鍵技術(shù)問題

　　根據(jù)以上討論，可見合成儀器的前途一定是光明的和有希望的。然而，如同任何新的創(chuàng)新那樣，用戶必須了解存在的問題。下面給出有關(guān)激勵和測量方面的關(guān)鍵問題和考慮。

　　測量問題

　　對于SI測量通路或測量硬件模擬器(MHE)必須仔細(xì)設(shè)計信號調(diào)理單元，以使被測的模擬信號電平適合測量通路所采用的功能單元(下變頻器和ADC)的動態(tài)范圍。信號調(diào)理單元也必須與測量鏈路中的其他功能單元匹配。測量通路的關(guān)鍵單元是下變頻器和ADC。

　　下變頻器技術(shù)

　　從測量觀點看，下變頻器也許是測量信號通路中最關(guān)鍵的單元。下變頻器(借助于濾波和混頻)必須能精確地產(chǎn)生重要的基帶信號。

　　為了實現(xiàn)此目的，必須精確地測定和設(shè)計下變頻器單元。

　　用戶UUT RF/微波測量要求和關(guān)鍵性能指標(biāo)如下：

　　·RF/微波輸入信號的頻率范圍；

　　·RF/微波輸入信號動態(tài)范圍，最小/最大電平范圍；

　　·信號瞬時輸入帶寬；

　　·輸入濾波要求(前置選擇)；

　　·本振(LO)/混頻器輸入的頻率范圍；

　　·本振調(diào)諧速度(必須與UUT測試時間要求一致)；

　　·IF帶寬靈活性：必須與所用數(shù)字轉(zhuǎn)換器技術(shù)一致；

　　·IF輸出電平/動態(tài)范圍：必須與所用數(shù)字轉(zhuǎn)換器技術(shù)一致；

　　·噪聲底值：平均顯示噪聲；

　　·信號隔離(dB)：LO到RF，LO至IF，RF到IF。