邊界掃描測(cè)試技術(shù)(04-100)
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作者：
時(shí)間：2008-04-01
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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這種系統(tǒng)級(jí)嵌入式IEEE1149.1測(cè)試方法可提供全面的系統(tǒng)自測(cè)試。它為所有測(cè)試時(shí)序提供合格/失效狀態(tài)。然而，所面對(duì)的是診斷出有故障的線路可替代單元，將返回到中心維修實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行引腳級(jí)診斷，采用的是邊界掃描工具廠家的診斷軟件。
本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/81044.htm用戶(hù)的要求驅(qū)動(dòng)IEEE1149.1邊界掃描迅速開(kāi)發(fā)成系統(tǒng)級(jí)測(cè)試和可編程器件現(xiàn)場(chǎng)重新配置的事實(shí)上的標(biāo)準(zhǔn)。此標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用已替代專(zhuān)用IEEE1149.1維護(hù)和測(cè)試管理總線的需求。
嵌入測(cè)試總線控制器的開(kāi)發(fā)，進(jìn)一步增強(qiáng)采用邊界掃描做為大規(guī)模系統(tǒng)的有效BIST方法，而實(shí)際上是用在像3G蜂窩基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)狀置的應(yīng)用中?！?益林)
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