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從高端檢測(cè)直流電流

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作者：Arlie Stonestreet II,ICE-Corp 時(shí)間：2005-09-09 來(lái)源：EDN電子設(shè)計(jì)技術(shù) 收藏
從高端檢測(cè)直流電流
盡管滿擺幅（rail-to-rail）運(yùn)算放大器現(xiàn)在是一種公認(rèn)的高端直流（dc）電流檢測(cè)方法，但可靠的電路仍然需要仔細(xì)的分析與設(shè)計(jì)。

　　在負(fù)載的高端進(jìn)行電流檢測(cè)通常是可取的。不過(guò)，為了成功地實(shí)現(xiàn)這種方法，工程師們必須克服一些設(shè)計(jì)障礙。現(xiàn)在，由于可以得到滿擺幅運(yùn)算放大器，圖1所示電路業(yè)已成為一種受歡迎的高端直流檢測(cè)手段。這種電路受歡迎有幾個(gè)原因，它以單電源供電，電源電壓范圍寬，因而適用于高端或低端電流檢測(cè)。輸入CMRR（共模抑制比）也與運(yùn)算放大器本身的基本抑制特性相當(dāng)，并且不依賴于電阻器的匹配。該電路的增益和輸入輸出電壓范圍設(shè)置方便，可達(dá)到

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