基于BIST的編譯碼器IP核測

1 引言

　　隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)?；贗P復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個系統(tǒng)，提高了設(shè)計(jì)效率，加快了設(shè)計(jì)過程，縮短了產(chǎn)品上市時間。但是隨著設(shè)計(jì)規(guī)模的增大，集成密度的提高，IP引腳的增多，IP的植入深度加大必然使得測試驗(yàn)證工作繁重。據(jù)統(tǒng)計(jì)，在SOC設(shè)計(jì)中，各種內(nèi)核的測試驗(yàn)證工作所用的時間占整個設(shè)計(jì)過程的60％～80％，SOC及IP核的測試驗(yàn)證已成為SOC技術(shù)發(fā)展的瓶頸。如何在最短的時間內(nèi)高效迅速地通過IP核驗(yàn)證與測試．并把其集成在SOC中成為業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn)和研究領(lǐng)域急待突破與實(shí)現(xiàn)的方向。

　　基于IP核復(fù)用的SOC，其IP核類型和來源都不相同，即使已驗(yàn)證好的IP核在集成時也不能確保不出差錯。IP核被集成到SOC后，其輸入輸出端口也嵌入到SOC，原本可測的端口失去了原有的可控性和可觀測性，變得不可測。

　　因此人們一直尋求有效的測試驗(yàn)證技術(shù)。本文給出了基于內(nèi)建自測試方法(BIST)，在設(shè)計(jì)編譯碼器IP核的同時，考慮其測試外殼設(shè)計(jì)，以期提高IP核可測性。

2測試結(jié)構(gòu)

　　所謂測試，就是在被測電路的輸入引腳施加相應(yīng)的激勵信號，然后檢測輸出引腳的響應(yīng)，并將檢測的輸出引腳的響應(yīng)與期望引腳的響應(yīng)進(jìn)行比較以判斷電路是否存在故障的過程。

　　IP核測試的目的在于檢測IP核是否存在功能和時序錯誤，從而對IP核進(jìn)行修改，提高產(chǎn)品的可靠性。一般采用訪問、隔離、控制的手段對IP核的輸入端施加激勵來得到響應(yīng)與期望的響應(yīng)進(jìn)行比較。嵌入式IP核的測試結(jié)構(gòu)如圖1所示。

 
　　測試激勵源為嵌入式IP核生成測試所需的激勵。響應(yīng)分析器對所得到的響應(yīng)進(jìn)行分析，如果相同則表明沒有故障，不同則表明存在故障。測試訪問機(jī)制是SOC傳送數(shù)據(jù)的一種手段，它將測試激勵傳送到IP核的輸入端口并將測試響應(yīng)從IP核的輸出端口傳送到響應(yīng)分析器。測試外殼是IP核同訪問機(jī)制及器件其他邏輯之間的接口；測試外殼以實(shí)現(xiàn)片上核與核之間的測試隔離，也可以為IP核提供了測試數(shù)據(jù)傳送通道。

3內(nèi)建自測試原理

　　內(nèi)建自測試是可測性設(shè)計(jì)的一種重要方法。其基本思想是讓電路自己生成測試向量，而非通過外部施加測試向量，并且依靠自身判斷所得到的結(jié)果是否正確。內(nèi)建自測試原理圖如圖2所示。

 
　　其中測試外殼(wrapper)在IP核的設(shè)計(jì)之中就予以考慮。通過測試外殼外部可以控制BIST和正常模式的切換。測試外殼內(nèi)部多采用邊界掃描模塊、移位寄存器或多路訪問器等，它起到訪問、隔離、控制的作用，可提高IP核的可測性。然而加入測試外殼會使IP核的面積開銷增大，因此必須在IP核的可測性和面積之間進(jìn)行權(quán)衡。

4 內(nèi)建自測試的實(shí)現(xiàn)

　　可控性指驅(qū)動一個節(jié)點(diǎn)為邏輯狀態(tài)0或1的難易程度；可觀測性指從外部端口觀察內(nèi)部節(jié)點(diǎn)故障的難易程度；可測性就是指在整個電路全部節(jié)點(diǎn)的可控性和可觀測性。很顯然，高可測性比較容易產(chǎn)生測試向量并且測試效果良好。

　　為了提高IP核的可測性，在IP核的設(shè)計(jì)中就考慮了設(shè)計(jì)特定電路方便測試。以BIST實(shí)現(xiàn)IP核的測試，一般具有如下優(yōu)勢：簡化測試接口；改善測試質(zhì)量；降低測試成本；提高測試可靠性。

　　基于BIST的編譯碼器IP核測試實(shí)現(xiàn)框圖如圖3所示。

 
　　通過測試外殼控制輸入／輸出寄存器將編譯碼器隔離使它們互不影響，正常狀態(tài)和測試狀態(tài)能夠切換，提高了IP核的可測性。具體的實(shí)現(xiàn)過程如下：

　　(1)正常狀態(tài)下原始碼輸入編碼器，由其輸出的碼再進(jìn)入譯碼器又轉(zhuǎn)換為原始碼；

　　(2)測試狀態(tài)下測試外殼的測試向量輸入編碼器，由其輸出的碼直接進(jìn)入譯碼器，由譯碼器輸出的碼為測試響應(yīng)輸出，使其與期望值比較；圖3中的模式選擇模塊的邏輯結(jié)構(gòu)如圖4所示。

 
　　圖4中mod為模式選擇控制端，置0為正常狀態(tài)。當(dāng)rood為1時，out_sel輸入測試向量，再由in_tem輸出，進(jìn)入in_sel；當(dāng)mod為0時，cod_out輸出片外，從而實(shí)現(xiàn)了正常狀態(tài)和測試狀態(tài)的切換?？梢杂糜布枋稣Z言編寫此邏輯電路。用VHDL描述如下：
 
　　此模式選擇模塊實(shí)現(xiàn)狀態(tài)之間的切換，電路簡單，易于實(shí)現(xiàn)。

5 結(jié)束語

　　BIST為嵌入式內(nèi)核的測試提供了一個可解決的方案，其測試效果明顯，故障覆蓋率較高，實(shí)現(xiàn)簡單。通過加入測試外殼可以實(shí)現(xiàn)對IP核的訪問、隔離、控制，有效地提高了IP核的可測性。但是采用BIST會使電路面積增加額外開銷，必須在IP核的可測性和面積之間進(jìn)行權(quán)衡。