TI將展示超高速USB 3.0傳輸芯片
加入技術(shù)交流群
Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據(jù)悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。
本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/94409.htm該測試芯片專為USB 3.0設(shè)計，可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅(qū)動及接收信號，并保持數(shù)據(jù)的完整性。
EEPW首頁 > 消費電子 > 業(yè)界動態(tài) > TI將展示超高速USB 3.0傳輸芯片
Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據(jù)悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。
本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/94409.htm該測試芯片專為USB 3.0設(shè)計，可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅(qū)動及接收信號，并保持數(shù)據(jù)的完整性。
評論