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復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)

—— RFID Test Challenges Based on Complex RF Environment
作者:Louise Parker 泰克公司 時間:2009-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  隨著設(shè)備價格的下降及全球市場擴大,ID應(yīng)用正面臨飛速發(fā)展。嵌入式ID的使用量不斷提高,隨著泛在ID中心(Ubiquitous ID Center)和T引擎論壇(T-Engine Forum)等協(xié)調(diào)性機構(gòu)的形成,GSM協(xié)會現(xiàn)已支持將基于ID的近場通信技術(shù)運用于手機中。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/95266.htm

  的一大挑戰(zhàn)是在復(fù)雜的、甚至苛刻的RF環(huán)境中優(yōu)化吞吐量或數(shù)據(jù)讀取速度。無源標簽可以對射頻范圍內(nèi)的任何一個或多個閱讀器做出反應(yīng)。協(xié)議中規(guī)定了這些通信的行為,但在實際的通信過程中,如果沒有適當?shù)脑O(shè)備,則很難對其進行測試。此外,在集成到采用蜂窩技術(shù)、WLAN、藍牙或Zigbee技術(shù)的同一臺設(shè)備中時,也需要運行嵌入式系統(tǒng)。最后,必須考慮同一頻段中其它用戶發(fā)出的干擾。

  其結(jié)果是,在部署前就有必要仿真復(fù)雜的RF環(huán)境,并分析RFID系統(tǒng)在這些條件下的性能。RFID的脈沖式特點和典型的干擾源令測試任務(wù)變得更富挑戰(zhàn)性。

  RFID技術(shù)概述

  最簡單的RFID系統(tǒng)由一個標簽(可以是無源標簽)和一個閱讀器組成。從結(jié)構(gòu)上看,無源標簽的讀取與傳統(tǒng)全雙工數(shù)據(jù)鏈路略有不同。與傳統(tǒng)有源數(shù)據(jù)鏈路不同的是,無源標簽依賴其收到的RF能量為自身供電。無源標簽同樣不會生成自己的傳送載波信號,而是調(diào)制詢問器發(fā)送到標簽的部分能量,這一過程稱為反向散射。

  通過把標簽的天線負荷從吸收負荷改變?yōu)榉瓷湄摵?,可以調(diào)制來自詢問器的連續(xù)波 (CW) 信號。這個過程與利用鏡子和陽光向遠處某人發(fā)送信號的過程非常類似。此外,這樣還消除了標簽中對高精度頻率來源和功率密集型發(fā)射機的需求。由于閱讀器和標簽共享相同的頻率,它們必須輪流發(fā)送信息。因此,反向散射把閱讀器和標簽之間的通信限定在半雙工系統(tǒng)上。

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