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MAX1169 ADC與PIC微控制器的接口
- 本應用筆記介紹如何連接MAX1169模數(shù)轉換器(ADC)至PIC微控制器。提供了對應PIC18F442的實例電路和軟件。該軟件包含了利用內部MSSP I2C*端口,以400kHz速率連接ADC至PIC微控制器的函數(shù)調用。 MAX1169是一款16位、低功耗ADC,具有I2C兼容的2線串行接口。MAX1169的接口可支持快速模式(400kHz)和高速模式(高達1.7MHz)。 本應用筆記包括實例應用電路和用于PIC18F442的軟件。該軟件提供了利用內部MSSP I2C端口,以400kHz速率連接ADC至
- 關鍵字: ADC PIC微控制器 單片機 嵌入式系統(tǒng)
奧地利微電子新型ADC向便攜數(shù)據(jù)采集應用
- 奧地利微電子公司(austriamicrosystems)最新推出AS1530/31系列全差分12位、8通道低功率模數(shù)轉換器,部分參考電壓為2.5V。AS1530/31系列適合電池供電產(chǎn)品和便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用,如遠程傳感器和筆式數(shù)字轉換儀,該設備功率低,速率高(400ksps),有四個模擬輸入模式,動態(tài)性能優(yōu)異(SINAD大于70dB),它采用無鉛TSSOP-20封裝。 據(jù)介紹,AS1530使用4.5V至5.5V電源,速度達400ksps時電流消耗僅為2.8mA。AS1531使用2.7V至3.
- 關鍵字: ADC 奧地利微電子 數(shù)據(jù)采集應用
合理選擇高速ADC實現(xiàn)欠采樣
- 欠采樣或違反奈奎斯特(Nyquist)準則是 ADC 應用上經(jīng)常使用的一種技術。射頻(RF)通信和諸如示波器等高性能測試設備就是其中的一些實例。在這個“灰色”地帶中經(jīng)常出現(xiàn)一些困惑,如是否有必要服從 Nyquist 準則,以獲取一個信號的內容。對于 Nyquist 和 Shannon 定理的檢驗將證明:ADC 采樣頻率的選擇與最大輸入信號頻率對輸入信號帶寬的比率有很強的相關性。 原理分析 Nyquist 定理被表達成各種各樣的形式,它的原意是:如果要從相等時間間隔取得的采樣點中,毫無失真地重建模擬信號
- 關鍵字: ADC
合理選擇高速ADC實現(xiàn)欠采樣
- 欠采樣或違反奈奎斯特(Nyquist)準則是 ADC 應用上經(jīng)常使用的一種技術。射頻(RF)通信和諸如示波器等高性能測試設備就是其中的一些實例。在這個“灰色”地帶中經(jīng)常出現(xiàn)一些困惑,如是否有必要服從 Nyquist 準則,以獲取一個信號的內容。對于 Nyquist 和 Shannon 定理的檢驗將證明:ADC 采樣頻率的選擇與最大輸入信號頻率對輸入信號帶寬的比率有很強的相關性?! ≡矸治觥 yquist 定理被表達成各種各樣的形式,它的原意是:如果要從相等時間間隔取得的采樣點中,毫無失真地重建模擬信號
- 關鍵字: ADC
使16位ADC提供19位分辨率的電路設計
- 許多數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)都要求高精度和快速采集數(shù)據(jù),以便允許該系統(tǒng)能夠檢測小信號并且能將更多的傳感器通道聚集在同一系統(tǒng)。傳感器通道越多,系統(tǒng)的外形就能夠越小,成本和功耗也越低。遠程光通信和醫(yī)用設備(例如,CT掃描儀)即得益于快速和高精度的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。在光功率系統(tǒng)(例如,激光泵)中,需要不斷監(jiān)視其功率水平。在這種數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,對于需要≥90dB動態(tài)范圍的輸入激光功率,其激光控制環(huán)路響應時間要求具有1MSPS的采樣率。在CT掃描儀中,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)必須具有16 b到22 b的分辨率,以便處理通過各種人體組織的寬動態(tài)
- 關鍵字: ADC
ADC實現(xiàn)測量數(shù)字化的必經(jīng)之路
- 高速和低分辨率ADC經(jīng)歷二十年才實現(xiàn)取樣率從1GS/S到20GS/S的進步,但缺少通用芯片可供使用,最近幾年情況有很大改善。溫故而知新,通過下文的回顧,可以預期高速和較高分辨率的ADC將有更多突破,出現(xiàn)更多的應用。 專用ADC遙遙領先 推動ADC取得優(yōu)異成果的主要力量來自電子測量儀器業(yè)界,為了保持與時俱進的高速信號的測試和分析,自從1960年代開始,安捷倫科技和泰克兩家公司,一直不懈努力研發(fā)電子示波器、頻譜分析儀、邏輯分析儀、任意波形發(fā)生器所需的專用集成電路,以期達到測量儀器領先于尖端信號測試的需求。安捷
- 關鍵字: ADC 測試測量
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