介電常數(shù) 文章進(jìn)入介電常數(shù)技術(shù)社區(qū)

PCB多基板的設(shè)計(jì)性能要求

多基板的設(shè)計(jì)性能大多數(shù)與單基板或雙基板類似，那就是注意避免使太多的電路塞滿太小的空間，從而造成不切實(shí)際的公差、高的內(nèi)層容量、甚至可能危及產(chǎn)品質(zhì)量的安全。因此，性能規(guī)范應(yīng)該考慮內(nèi)層線路的熱沖擊、絕緣電阻、焊接電阻等的完整的評估。以下內(nèi)容敘述了多基板設(shè)計(jì)中應(yīng)考慮的重要因素。
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高增益反射陣列天線的設(shè)計(jì)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字：高增益天線反射陣列相控陣天線介電常數(shù) PBG

高頻材料的選擇條件

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字：高頻材料介電常數(shù) CTEr 介質(zhì)損耗

基于LabWindows／CVI介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)的測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

摘要：針對介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)測量自動(dòng)化的需要，根據(jù)微擾法理論設(shè)計(jì)一套基于LabWindows／CVI的介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)的測量軟件系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)主要包括校準(zhǔn)、矢網(wǎng)控制、計(jì)算三個(gè)模塊。用戶只需按照測試面板的提示即可完成對
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介電常數(shù)介紹

介電常數(shù)-概述 BST薄膜介電常數(shù)的溫度特性一個(gè)電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后電容變大ε倍。電介質(zhì)有使空間比起實(shí)際尺寸變得更大或更小的屬性。例如，當(dāng)一個(gè)電介質(zhì)材料放在兩個(gè)電荷之間，它會(huì)減少作用在它們之間的力，就像它們被移遠(yuǎn)了一樣。當(dāng)電磁波穿過電介質(zhì)，波的速度被減小，有更短的波長。相對介電常數(shù)εr可以用靜電場用如下方式測量:首先在其兩塊極板之間為空氣的時(shí)候測試電容器 [ 查看詳細(xì) ]

介電常數(shù)專欄文章

羅杰斯｜你問我答｜第一期

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