羅杰斯|你問我答|第一期
Q:相同材料下測得的電路插入損耗與羅杰斯的數(shù)據(jù)有差異
A:一般傳輸線的電路的插入損耗通??梢苑譃閮蓚€部分,分別是介質(zhì)損耗和導(dǎo)體損耗。在使用相同電路材料,在相同頻率的情況下,介質(zhì)損耗視為相同,那么這個差異可以從導(dǎo)體損耗去尋找差異。
首先,是否使用相同的電路形式,比如羅杰斯通常采用微帶線的方式測試電路的損耗特性,那么對比時是否也是使用微帶線的傳輸線,導(dǎo)體寬度是否相同。導(dǎo)體寬度越窄會導(dǎo)體損耗越大。
其次,羅杰斯所提供的數(shù)據(jù)中均沒有任何的表面處理,僅裸銅的損耗。而如果對比時的電路采用了表面處理,由于表面處理的導(dǎo)電性通常更大,因此會增加導(dǎo)體損耗。
再者,在相同導(dǎo)體寬度也無表面處理的情況下,還需要注意關(guān)注對比的電路的回波特性,特別是在較高頻率下回波特性更容易導(dǎo)致能量損失,造成更大的電路損耗。
因此,從這幾個方面去分析對比,可以得到問題所在。
Q:毫米波下的介電常數(shù)測試
A:對于材料的介電常數(shù)的測試和評估有很多種不同的方法,主要可以分為基于原材料的測試方法和基于電路的測試方法。
一方面,基于原材料的測試方法的準(zhǔn)確度很大程度上取決于測試夾具的精度和可重復(fù)性。目前能準(zhǔn)確測試毫米波頻段下的材料性能的測試方法較少,且其中絕大多數(shù)方法測試的時材料平面內(nèi)的介電常數(shù),而非與實(shí)際電路的電場方向一致的厚度方向的介電常數(shù)。這樣得到的介電常數(shù)與實(shí)際電路會有一定的差異。
另一方面,可以采用基于電路的測試方法來評估測試材料在毫米波下的介電常數(shù),比如使用諧振電路形式或傳輸反射的方法。傳輸反射法最為常用的是基于微帶線的介電常數(shù)測試方法,而諧振電路法常用的是諧振環(huán)方法。相比之下,微帶線電路更為簡單,不容易受加工容差的影響,而諧振環(huán)更容易受到加工等容差變化影響,比如諧振環(huán)耦合耦合間隙、銅厚、諧振環(huán)直徑大小等變化會造成諧振頻率偏移,從而造成得到的介電常數(shù)偏移。
總的來說,毫米波下的介電常數(shù)的測試變得更加的困難和易受影響,選擇一種適合并與應(yīng)用電路相近的測試方法能更好的評估材料的特性。
Q:PTFE材料在POFV制程上的適用性
A:POFV工藝需要做機(jī)械磨刷,而PTFE材料材質(zhì)軟不建議做機(jī)械磨刷。
對于雙面PTFE板會有較大難度,因?yàn)闄C(jī)械磨刷會導(dǎo)致PTFE材料尺寸發(fā)生變化難以控制,可能會導(dǎo)致報(bào)廢。如果選擇有玻璃布增強(qiáng)的PTFE材料,并嚴(yán)格控制機(jī)械磨刷的條件,做POFV工藝是可行的。
對于PTFE與熱固性材料的混壓多層板,多層板的尺寸穩(wěn)定性是由熱固性材料決定的,所以機(jī)械磨刷后并不會因?yàn)槌叽缱冃味鴮?dǎo)致報(bào)廢。但在機(jī)械磨刷PTFE材料這一面時需要注意凹坑凹點(diǎn)的產(chǎn)生。綜合以上,在PTFE材料上做POFV工藝有難度,但是可行的。
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