首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 存儲器數據

淺析存儲器數據的軟誤差率(SER)問題

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀70年代后期作為一項存儲器數據課題而受到人們的廣泛關注的,當時DRAM開始呈現出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
  • 關鍵字: SER  存儲器數據  軟誤差    

AT24系列存儲器數據串并轉換接口的IP核設計

  • 介紹用VHDL語言設計該存儲器數據串并轉換接口的IP核,從而通過硬件(FPGA或其他可編程芯片)實現AT24系列存儲器與8位微處理器之間的并行通信。
  • 關鍵字: AT  24  存儲器數據  串并轉換    
共2條 1/1 1

存儲器數據介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條存儲器數據!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對存儲器數據的理解,并與今后在此搜索存儲器數據的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網安備11010802012473