首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì)展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊(cè)   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請(qǐng)
EEPW首頁 >> 主題列表 >> ser

核磁共振成像系統(tǒng)的振蕩器分析

  • 核磁共振成像系統(tǒng)(MRI)可以拍攝高分辨率的人體剖面透視圖,為醫(yī)療癥斷提供非常有用的信息。射頻探針是MRI系統(tǒng)的重要部件,該探針發(fā)射出均勻的射頻磁場(chǎng),并接收人體反射回來的磁共振信號(hào),還原出高質(zhì)量的圖像。
  • 關(guān)鍵字: SER  核磁共振  振蕩器  

淺析存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
  • 關(guān)鍵字: SER  存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)  軟誤差    

存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題介紹

  • 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題介紹,軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
  • 關(guān)鍵字: 問題  介紹  SER  誤差  數(shù)據(jù)  存儲(chǔ)器  

SER的傾向和含意 系統(tǒng)級(jí)的含意和重要性

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
  • 關(guān)鍵字: SER  系統(tǒng)級(jí)    

存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題

  • 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題,  軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電
  • 關(guān)鍵字: 問題  SER  誤差  數(shù)據(jù)  存儲(chǔ)器  
共5條 1/1 1

ser介紹

  軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚集區(qū)的減小速度快得多。這意味著: 當(dāng)采用諸如90nm這樣的較小工藝幾何尺寸時(shí),軟誤差是一個(gè)更加值得關(guān)注的問題,并需要采取進(jìn)一步的措施來確保軟誤差率被維持在一個(gè)可以接受的水平上?! ˇ亮? [ 查看詳細(xì) ]

相關(guān)主題

熱門主題

Serial-to-Parallel    Server-side    樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473