首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 成品率診斷

CADENCE擴(kuò)展測(cè)試以及成品率診斷技術(shù)先導(dǎo)地位

  • 　　Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司宣布，憑借其最新的數(shù)據(jù)壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴(kuò)展在測(cè)試和成品率診斷領(lǐng)域的 技術(shù)先導(dǎo)地位。新版Cadence® Encounter® Test通過(guò)為非專有的片上異或（XOR）測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮結(jié)構(gòu)提供更廣泛的支持,解決在制造高品質(zhì)硅芯片過(guò)程中的費(fèi)用上漲問(wèn)題。此新型數(shù)據(jù)壓縮性能增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試矢量生成(ATPG)和診斷產(chǎn)品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。 　　   　　這種新型測(cè)試功能在
  • 關(guān)鍵字： CADENCE擴(kuò)展測(cè)試  測(cè)量  測(cè)試  成品率診斷  測(cè)試測(cè)量  
共1條 1/1 1

成品率診斷介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條成品率診斷!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)成品率診斷的理解，并與今后在此搜索成品率診斷的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹(shù)莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473