CADENCE擴(kuò)展測(cè)試以及成品率診斷技術(shù)先導(dǎo)地位

　　Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司宣布，憑借其最新的數(shù)據(jù)壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴(kuò)展在測(cè)試和成品率診斷領(lǐng)域的

技術(shù)先導(dǎo)地位。新版Cadence® Encounter® Test通過為非專有的片上異或（XOR）測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮結(jié)構(gòu)提供更廣泛的支持,解決在制造高品質(zhì)硅芯片過程中的費(fèi)用上漲問題。此新型數(shù)據(jù)壓縮性能增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試矢量生成(ATPG)和診斷產(chǎn)品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。 　　  
　　這種新型測(cè)試功能在輸入端采用了基于XOR發(fā)散網(wǎng)絡(luò)扇出的解壓縮技術(shù)，而在輸出端則使用帶有可選的不定態(tài)屏蔽功能的XOR樹狀壓縮技術(shù)。對(duì)于被Cadence Encounter Test用戶廣泛使用的高效OPMISR+（產(chǎn)品內(nèi)的多輸入簽字寄存器）體系來說，這種技術(shù)無疑能夠使之更為強(qiáng)大。任何一種壓縮體系都可以很方便地嵌入到Encounter Test Architect.中去，該產(chǎn)品曾獲得2005年Test & Measurement World 雜志評(píng)選出來的最佳測(cè)試獎(jiǎng)。 　　  

　　此外，在導(dǎo)致成品率損耗的設(shè)計(jì)中，Encounter Test Diagnostics性能實(shí)現(xiàn)了由邏輯域到物理結(jié)構(gòu)定位的擴(kuò)展。而這些結(jié)構(gòu)則通過一個(gè)新型、直觀、易于使用以及全功能的物理瀏覽器顯示出來。此瀏覽器能夠在診斷標(biāo)注和網(wǎng)點(diǎn)之間迅速建立關(guān)聯(lián)，包括它的金屬層次，以及周圍的過孔和接觸孔，從而加速了物理故障分析（PFA）。 


　　Cadence® Encounter® Test是Cadence Encounter數(shù)字IC設(shè)計(jì)平臺(tái)的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，幫助行業(yè)實(shí)現(xiàn)了從邏輯設(shè)計(jì)到硅芯片的最先進(jìn)的測(cè)試解決方案。這項(xiàng)新技術(shù)現(xiàn)已全面上市。