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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 抖動(jitter)測量

日置(HIOKI)超絕緣計SM8710

  • 日置于近期推出超絕緣系列新產(chǎn)品SM7810。該產(chǎn)品適用于測量手機(jī)等電子設(shè)備上裝配的多層陶瓷電容。可測量8通道,比起以往產(chǎn)品提高了一倍,因為還具備了目前為止業(yè)界最快6.8ms(6.8/1000秒)的高速測量,大幅提高了生產(chǎn)線的測量效率。
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日置將近期推出全新LCR測試儀

  • 針對今后日益龐大的電子零部件產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的檢測需求,日置將于近期推出全新LCR測試儀,總共3種以對應(yīng)不同環(huán)境需要。分別是IM3523,IM3533,IM3533-01。
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非同于MCU的獨立按鍵消抖動

  • 簡單的說,進(jìn)入了電子,不管是學(xué)純模擬,還是學(xué)單片機(jī),DSP、ARM等處理器,或者是我們的FPGA,一般沒有不用到按鍵的地方。按鍵:人機(jī)交互控制,主要用于對系統(tǒng)的控制,信號的釋放等。因此在這里,F(xiàn)PGA上應(yīng)用的按鍵消
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LTE設(shè)備和系統(tǒng)射頻特性的測量

  • 對任何LTE設(shè)備制造商來說,確保產(chǎn)品符合3GPP標(biāo)準(zhǔn)的要求非常重要,例如TS36.141基站一致性測試和TS36.521 UE一致性規(guī)范射頻傳輸與接收。然而,基于這些標(biāo)準(zhǔn)高效準(zhǔn)確地呈現(xiàn)諸如OFDM、MIMO和Layer1/2/3等通用射頻發(fā)射特
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PSRR測量技術(shù)探討及檢視D類放大器性能的替代方法

  • 開環(huán)閉環(huán)D類放大器逐漸成為消費(fèi)性音頻電子設(shè)計人員的優(yōu)先選擇,若要準(zhǔn)確地掌握放大器的性能,就需要不同的方式來檢視電源紋波的效果。現(xiàn)在的音頻設(shè)計人員非常重視降低系統(tǒng)成本、縮小體積以及提升音質(zhì),而這些都需要高
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電壓法LED結(jié)溫測量原理及熱阻測試

  • LED應(yīng)用于照明除了節(jié)能外,長壽命也是其十分重要的優(yōu)勢。目前由于LED 熱性能原因,LED 及其燈具不能達(dá) 到理想的使用壽命;LED 在工作狀態(tài)時的結(jié)溫直接關(guān)系到其壽命和光效;熱阻則直接影響LED 在同等使用條件下 LED 的結(jié)溫
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核輻射劑量場分布進(jìn)行實時成像測量的新方法―陣列

  • 本文利用閃爍體的吸收發(fā)光特點,并結(jié)合計算機(jī)斷層掃描技術(shù),提出了對核輻射劑量場分布進(jìn)行實時成像測量的新方法——陣列式吸收發(fā)光CT法,研制出閃爍光纖陣列構(gòu)成的核探測器及其伺服控系統(tǒng).采用高靈敏度的電
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離散滑??刂圃赨PS逆變器設(shè)計中的應(yīng)用

相位檢測原理分析及其在微弱信號測量中的應(yīng)用

  • 在非接觸測量旋轉(zhuǎn)物體內(nèi)部溫度時,所獲取的反饋信號相當(dāng)微弱,有可能會受到瞬間低電平信號的干擾。本文介紹一種利用相位檢測,來判斷所獲取的反饋信號是真是假,從而鎖定真信號并正確顯示被測對象溫度的方法。
      
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數(shù)字化控制UPS中電池電壓的檢測方法

  • 1.引言隨著用電設(shè)備對電源系統(tǒng)可靠性要求的進(jìn)一步提高,能夠獲得持續(xù)、穩(wěn)定的純凈電源的UPS得到了越來越...
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電磁兼容性的設(shè)計及其測量

  • 1、主要技術(shù)參數(shù)電磁兼容性的設(shè)計是一項復(fù)雜的系統(tǒng)工程。首先要學(xué)習(xí)并掌握有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范,然后參照實際電磁環(huán)境來提出具體的要求,進(jìn)而制定技術(shù)和工藝的實施方案。在設(shè)計電子儀器、設(shè)備時。應(yīng)重點考慮電路設(shè)計、隔離
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隔離型µModule電源轉(zhuǎn)換器改善了信號測量準(zhǔn)確度

  • 引言
    對于因變化不定的電位所引起的接地平面中的擾動 (常被稱為接地環(huán)路) 而言,正確實施的電流隔離是一種有效的防護(hù)舉措。由于物理限制的原因,PCB 上的電氣組件必需在不同的物理位置與接地平面相連。因此,當(dāng)每個
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圖文解析能源之星LED照明測量標(biāo)準(zhǔn)及檢測細(xì)節(jié)

  • 為加速LED照明商品化,北美能源之星針對LED照明產(chǎn)品特性,訂定迥異于傳統(tǒng)照明的測試規(guī)范,包含環(huán)境溫度測試、積分球量測、配光曲線等,透過LED照明產(chǎn)品測試方式定義的一致性,區(qū)分出LED照明裝置的優(yōu)良,有利于質(zhì)量升
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測量光耦響應(yīng)時間的簡單電路

  • 本例中的電路可以用于測量光敏電阻型光耦的啟動與恢復(fù)時間(圖1)。這些光耦器件一般用于音頻壓縮器或音量控 ...
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消除測試設(shè)備對射頻器件測量影響

  • 提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù),可以將VNA精度從儀器端口 ...
  • 關(guān)鍵字: 測試設(shè)備  射頻器件  測量  
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抖動(jitter)測量介紹

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