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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 控制與測(cè)量

使用LabVIEW與PXI設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)裝置

  • ??? 　"使用PXI平臺(tái)與NI LabVIEW編程環(huán)境，我們有效地開發(fā)了試驗(yàn)裝置的控制與測(cè)量系統(tǒng)。硬件系統(tǒng)的配置為連接更多的輸入信號(hào)并使用新的測(cè)量模塊擴(kuò)展系統(tǒng)預(yù)留了很大的余地。因?yàn)槠淠K化的設(shè)計(jì)，我們可以實(shí)現(xiàn)更多的功能從而擴(kuò)展它的應(yīng)用范圍。此外，LabVIEW中隨時(shí)可用的信號(hào)分析功能使得這些功能的實(shí)現(xiàn)盡可能的簡(jiǎn)單。"– Bogdan Iwiński, Veritech Sp. z o.o. 　
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控制與測(cè)量介紹

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