極限高溫測試 文章 進入極限高溫測試技術社區(qū)
國產芯片真金質!基本半導體挑戰(zhàn)極限高溫測試“火”力全開

- 挑戰(zhàn)驕陽火焰山,何須芭蕉借又還。國產芯片真金質,不懼火煉過樓蘭?!崗V州國創(chuàng)中心副總經理8月14日,國家新能源汽車技術創(chuàng)新中心(簡稱“國創(chuàng)中心”)邀請基本半導體等13家國內整車和半導體企業(yè)的專家,實地開展“中國車規(guī)半導體首批測試驗證項目吐魯番高溫試驗”活動,并舉行了車規(guī)半導體測試驗證項目高溫測試技術研討會。自2019年7月底開始,國創(chuàng)中心攜搭載了國產自主硅基IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)、碳化硅二極管和碳化硅MOSFET(金屬-氧化物半導體場效應晶體管)的4輛試驗車,在吐魯番進行為期一個月的“極限高溫”
- 關鍵字: 國產芯片 基本半導體 極限高溫測試
共1條 1/1 1 |
極限高溫測試介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條極限高溫測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對極限高溫測試的理解,并與今后在此搜索極限高溫測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對極限高溫測試的理解,并與今后在此搜索極限高溫測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
