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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試技術(shù)

淺析射頻標(biāo)識(shí)RFID測(cè)試技術(shù)

  • 中心議題:淺析射頻標(biāo)識(shí)RFID測(cè)試技術(shù)解決方案:預(yù)一致性測(cè)試有助于產(chǎn)品一致性測(cè)試使用 RTSA可以很容易地測(cè)量 TAT隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場(chǎng)的擴(kuò)大,射頻標(biāo)識(shí) RFID(以下簡(jiǎn)稱RFID)的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可
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高速PCB互連設(shè)計(jì)中的測(cè)試技術(shù)

  • 互連設(shè)計(jì)技術(shù)包括測(cè)試、仿真以及各種相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),其中測(cè)試是驗(yàn)證各種仿真分析結(jié)果的方法和手段。優(yōu)秀的測(cè)試方法和手段是保證互連設(shè)計(jì)分析的必要條件,對(duì)于傳統(tǒng)的信號(hào)波形測(cè)試,主要應(yīng)當(dāng)關(guān)注的是探頭引線的長(zhǎng)度,避免pi
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CAN總線系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)

  • 引 言隨著汽車電子技術(shù)的發(fā)展,汽車上所用的電控單元不斷增多,電控單元之間信息交換的需求促進(jìn)了車用總線技術(shù)的發(fā)展。CAN總線即控制器局域網(wǎng)總線,由Bosch公司于1981年制定,主要目的為用作汽車的高速動(dòng)力總線、中速
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IA服務(wù)器測(cè)試技術(shù)的策略與方法

  • 服務(wù)器對(duì)比測(cè)試要點(diǎn)  本節(jié)內(nèi)容主要是為了讓用戶快速了解服務(wù)器測(cè)試策略與方法,能夠用于選型測(cè)試中。在此僅僅以最重要的性能、內(nèi)存緩存性能、數(shù)據(jù)庫(kù)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用輔以基本對(duì)比測(cè)試來(lái)考察不同服務(wù)器間的性能。具體測(cè)試技
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基于AFDX總線的端系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)

  • 摘要:AFDX總線技術(shù)是目前航空機(jī)載設(shè)備交換式網(wǎng)絡(luò)的代表,也是近年來(lái)大型飛機(jī)航空機(jī)載設(shè)備首選的總線通信網(wǎng)絡(luò)。為了實(shí)現(xiàn)某設(shè)備AFDX總線主要功能和性能檢測(cè),簡(jiǎn)要介紹了AFDX總線技術(shù)的基本原理與通信特點(diǎn),通過(guò)使用VC
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基于JTAG的互連測(cè)試技術(shù)

  • 一、引言隨著微電子技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成電路(VLSI)時(shí)代,VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面貼裝(SMT)、圓片規(guī)模集成(WSI)和多芯片模塊 (MCM)技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運(yùn)用,使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問(wèn)性正逐
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最新測(cè)試技術(shù)在芯片良率提高中發(fā)揮新作用

  • 在納米設(shè)計(jì)時(shí)代,可制造性設(shè)計(jì)(DFM)方法在提高良率方面中已經(jīng)占據(jù)了中心地位。為了實(shí)現(xiàn)更高的良率,人們?cè)诔跏荚O(shè)計(jì)和制造過(guò)程本身采用了各種技術(shù)。由于采用了DFM規(guī)則,驗(yàn)證這些技術(shù)的有效性就至關(guān)重要。新的測(cè)試方法
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虛擬儀器測(cè)試技術(shù)在汽車電動(dòng)助力轉(zhuǎn)向系統(tǒng)上的應(yīng)用

  • 一、虛擬儀器的概括根據(jù)現(xiàn)在的汽車工程測(cè)試的各種情況,建立靈活變化、功能強(qiáng)大、成本低廉的汽車電器測(cè)試系統(tǒng)是我們現(xiàn)在汽車測(cè)試的迫切要求,這種測(cè)試系統(tǒng)可以按照每一工程測(cè)試的要求,自由增減測(cè)試系統(tǒng)配置,通過(guò)各
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DDR測(cè)試技術(shù)介紹與工具分析

  • DDR是雙倍數(shù)據(jù)速率的SDRAM內(nèi)存,如今大多數(shù)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、服務(wù)器產(chǎn)品的主流存儲(chǔ)器技術(shù),并且不斷向嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域滲透。孰不知,隨著iPhone等大牌智能手機(jī)的采納,DDR內(nèi)存儼然成為智能手機(jī)轉(zhuǎn)變的方向之一,例如韓國(guó)
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鉛酸蓄電池維護(hù)與測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)分析

  • 摘要:介紹了影響蓄電池使用壽命的因素,并就容量測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀進(jìn)行了分析,結(jié)合實(shí)際介紹了蓄電池容量測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)。關(guān)鍵詞:蓄電池;使用壽命;容量測(cè)試技術(shù);發(fā)展趨勢(shì)0 引言 隨著信息、能源、電子技術(shù)
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一種新的基于時(shí)域方法的EMC測(cè)試技術(shù)

  • 本文討論了寬帶時(shí)域測(cè)量技術(shù)應(yīng)用于測(cè)量電磁干擾(EMI) 時(shí)所具備的優(yōu)勢(shì)。寬帶時(shí)域測(cè)量技術(shù)用于EMI測(cè)量時(shí),其數(shù)字信號(hào)處理能力使它能夠?qū)崟r(shí)仿真?zhèn)鹘y(tǒng)模擬設(shè)備的各種測(cè)量模式,如峰值檢測(cè)模式、平均值檢測(cè)模式、 RMS檢測(cè)模
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現(xiàn)代實(shí)時(shí)頻譜測(cè)試技術(shù)

  • 前言19世紀(jì)60年代,James Maxwell 通過(guò)計(jì)算推斷出存在著能夠通過(guò)真空傳輸能量的電磁波。此后工程師和科學(xué)家們一直在尋求創(chuàng)新方法利用無(wú)線電技術(shù)。接下來(lái),隨著軍事和通信領(lǐng)域技術(shù)的深入發(fā)展,20世紀(jì)無(wú)線電技術(shù)一直在不
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LED照明測(cè)試技術(shù)分析――驅(qū)動(dòng)電源可靠性和能效成關(guān)

  • 近幾年LED作為新型節(jié)能光源在全球和中國(guó)都贏得得了很高的投資熱情和極大關(guān)注,并由戶外向室內(nèi)照明應(yīng)用市場(chǎng)滲透,中國(guó)也涌現(xiàn)出大大小小上萬(wàn)家LED照明企業(yè)。讓LED照明大放異彩的最主要原因正是其宣揚(yáng)的具有節(jié)能、環(huán)保、
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新環(huán)境下如何應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻的微波與射頻測(cè)試技術(shù)挑戰(zhàn)

  • 由專注于微波、射頻、無(wú)線技術(shù)的行業(yè)門(mén)戶網(wǎng)站,微波射頻網(wǎng)與中國(guó)歷史最悠久、最權(quán)威的中國(guó)電子展聯(lián)合主辦的“2012微波射頻測(cè)試與測(cè)量研討會(huì)”將于4月11日在深圳會(huì)展中心6樓正式啟動(dòng),本次會(huì)議主題將圍繞
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嵌入式系統(tǒng)的存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)及無(wú)線傳輸應(yīng)用

  • 存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)是在特殊環(huán)境下記錄運(yùn)動(dòng)物體參數(shù)的最有效的手段。本文介紹了基于ARM7 LPC21xx開(kāi)發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的方法。Philips公司16/32位微控制器LPC21xx是基于支持實(shí)時(shí)仿真和嵌入式跟蹤的16/32 位ARM7TDMIS CPU的微
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