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測(cè)試負(fù)載
測(cè)試負(fù)載 文章 進(jìn)入測(cè)試負(fù)載技術(shù)社區(qū)
優(yōu)化測(cè)試單元產(chǎn)能:Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測(cè)試儀性能
- 面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)最佳測(cè)試儀利用率。短Index時(shí)間(DUT交換時(shí)間)、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測(cè)試儀保持同步。 理想情況下,如果分選機(jī)沒(méi)有局限性,增強(qiáng)的測(cè)試儀性能從兩方面優(yōu)化了測(cè)試單元產(chǎn)能:它們得益于更短測(cè)試時(shí)間和更高測(cè)試并行性的應(yīng)用。 目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測(cè)試儀性能,即使它們擁有多個(gè)相應(yīng)的測(cè)試位亦是如此
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Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測(cè)試單元設(shè)置
- 面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨(dú)特產(chǎn)品。Multitest不僅作為整個(gè)項(xiàng)目的負(fù)責(zé)任的合作伙伴優(yōu)化了項(xiàng)目管理,亦確保了最佳上市時(shí)間。下面的案例研究描述了一個(gè)項(xiàng)目,針對(duì)該項(xiàng)目,Multitest結(jié)合先進(jìn)仿真工具成功應(yīng)用了并行工程方法,旨在針對(duì)頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測(cè)
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測(cè)試負(fù)載介紹
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