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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試負(fù)載

優(yōu)化測試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測試儀性能

  • 　　面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測試分包商，設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計旨在實(shí)現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間（DUT交換時間）、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測試儀保持同步。 　　理想情況下，如果分選機(jī)沒有局限性，增強(qiáng)的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應(yīng)用。 　　目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測試儀性能，即使它們擁有多個相應(yīng)的測試位亦是如此
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Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測試單元設(shè)置

  • 　　面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測試分包商，設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨(dú)特產(chǎn)品。Multitest不僅作為整個項目的負(fù)責(zé)任的合作伙伴優(yōu)化了項目管理，亦確保了最佳上市時間。下面的案例研究描述了一個項目，針對該項目，Multitest結(jié)合先進(jìn)仿真工具成功應(yīng)用了并行工程方法，旨在針對頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測
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測試負(fù)載介紹

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