優(yōu)化測(cè)試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測(cè)試儀性能

　　面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)最佳測(cè)試儀利用率。短Index時(shí)間（DUT交換時(shí)間）、快速上料與分類(lèi)以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測(cè)試儀保持同步。

　　理想情況下，如果分選機(jī)沒(méi)有局限性，增強(qiáng)的測(cè)試儀性能從兩方面優(yōu)化了測(cè)試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測(cè)試時(shí)間和更高測(cè)試并行性的應(yīng)用。

　　目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測(cè)試儀性能，即使它們擁有多個(gè)相應(yīng)的測(cè)試位亦是如此。因此，潛在的產(chǎn)能優(yōu)勢(shì)受到最高分選機(jī)產(chǎn)能的限制。最高分選機(jī)產(chǎn)能取決于上料、預(yù)熱和分類(lèi)速度。

　　增加測(cè)試位的數(shù)量（并行性）將直接與能夠同時(shí)測(cè)試更多器件的增強(qiáng)的測(cè)試儀能力相呼應(yīng)。只有在未達(dá)到分選機(jī)的上料和分類(lèi)能力上限的情況下，才能增加并行性。否則，這將被更長(zhǎng)的上料和分類(lèi)時(shí)間抵消。在任何情況下，分選速度均需改善，以便受益于更短測(cè)試時(shí)間。對(duì)于所需的預(yù)熱能力來(lái)說(shuō)亦是如此，目的是為了充分利用更高并行性和更短測(cè)試時(shí)間的優(yōu)勢(shì)。

　　MT2168的設(shè)計(jì)旨在充分利用測(cè)試儀的性能。該新一代測(cè)試分選機(jī)不僅針對(duì)單個(gè)參數(shù)（并行性和速度）進(jìn)行優(yōu)化，其內(nèi)部的測(cè)試位數(shù)量、上料、預(yù)熱及分類(lèi)能力等方面也得到同步改善。