測(cè)量文章進(jìn)入測(cè)量技術(shù)社區(qū)

抖動(dòng)-示波器測(cè)量的最高境界

抖動(dòng)話題是示波器測(cè)量的最高境界，也是最風(fēng)云變換的一個(gè)話題，這是因?yàn)槎秳?dòng)是示波器測(cè)量的諸多功能中最和“數(shù)學(xué)”相關(guān)的。玩數(shù)學(xué)似乎是需要一定境界的。 1，抖動(dòng)和波形余輝的關(guān)系有一種比較傳統(tǒng)的測(cè)量抖動(dòng)的方法，就是利用余輝來(lái)查看信號(hào)邊沿的變化，然后再用光標(biāo)測(cè)量變化的大小（如圖1所示）。后來(lái)高端一點(diǎn)的示波器具有“余輝直方圖”的功能，利用余輝直方圖和相關(guān)參數(shù)可以自動(dòng)測(cè)量出信號(hào)邊沿變化的余輝的變化范圍。在上個(gè)世紀(jì)90年代初示波器有了真正意義的“測(cè)量統(tǒng)計(jì)”功能之后，這個(gè)方法就逐漸被淘汰了。&n
關(guān)鍵字：抖動(dòng) 示波器測(cè)量

【對(duì)話前沿KOL】探析電子測(cè)試和測(cè)量行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)

Boen提倡采用全面的協(xié)作方法來(lái)推進(jìn)AI/ML技術(shù)，她認(rèn)為創(chuàng)新對(duì)于促進(jìn)社會(huì)進(jìn)步至關(guān)重要，可以改變我們的工作和生活方式。她的理由是，技術(shù)開發(fā)能夠促使該行業(yè)推出新的市場(chǎng)解決方案。泰克戰(zhàn)略技術(shù)和先進(jìn)集成電路 (AICS) 總監(jiān)Sarah Boen與Electronic Specifier對(duì)話，以下內(nèi)容為本文對(duì)話要點(diǎn)。測(cè)試和測(cè)量行業(yè)在過(guò)去十年中取得了巨大發(fā)展，目前有哪些關(guān)鍵變化正在改變行業(yè)格局？過(guò)去二十年，我有幸在測(cè)試和測(cè)量行業(yè)工作，我想說(shuō)，該行業(yè)當(dāng)前充滿了巨大且振奮人心的變化。測(cè)試和測(cè)量行業(yè)過(guò)去提供通用解決方案
關(guān)鍵字：電子測(cè)試測(cè)量泰克

MV.C機(jī)器視覺(jué)高光譜成像系統(tǒng)及其應(yīng)用

高光譜成像技術(shù)是近些年來(lái)迅速發(fā)展起來(lái)的、一種全新的影像分析檢測(cè)技術(shù),它是集圖像傳感器、精密光學(xué)，精密機(jī)械、計(jì)算機(jī)信息處理技術(shù)于一體的綜合性技術(shù)。在高光譜數(shù)據(jù)采集過(guò)程中,成像光譜儀以納米級(jí)的光譜分辨率,以幾十或幾百個(gè)波段對(duì)檢測(cè)目標(biāo)成像,形成海量數(shù)據(jù)的數(shù)字影像集（也稱數(shù)據(jù)立方體Data Cube），實(shí)現(xiàn)了目標(biāo)的光譜信息、空間信息及輻射信息的同步獲取,因而在目標(biāo)檢測(cè)和目標(biāo)識(shí)別領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用價(jià)值和廣闊的發(fā)展前景。高光譜成像相比傳統(tǒng)的影像技術(shù)有以下的優(yōu)點(diǎn)在相應(yīng)的光譜范圍內(nèi)，具有上百個(gè)光譜通道的影像數(shù)據(jù)，影像上每
關(guān)鍵字： MV.C機(jī)器視覺(jué) 檢測(cè) 測(cè)量

使用一種高度集成的 ToF 位置傳感器進(jìn)行精確的距離測(cè)量

引言在許多應(yīng)用中，無(wú)法通過(guò)實(shí)際接觸來(lái)測(cè)量與目標(biāo)之間的距離。典型示例包括測(cè)量物流中心的傳送帶上是否存在物體，確保與運(yùn)動(dòng)中的機(jī)械臂保持安全距離，確定倉(cāng)庫(kù) 中人員或機(jī)器人相對(duì)于資產(chǎn)的位置。飛行時(shí)間 (ToF) 位置傳感器有助于利用光線到達(dá)物體及返回所需的時(shí)間來(lái) 測(cè)量距離。OPT3101 是高速、高分辨率 AFE 的一個(gè) 典型示例，適用于完全集成且基于 ToF 的連續(xù)波位置傳感器。該傳感器可在 15m 不模糊的范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn) 16 位距離輸出。有關(guān) OPT3101 的更多信息，請(qǐng)參
關(guān)鍵字： ToF 位置傳感器測(cè)量

Diodes 公司的高精度雙向電流顯示器能以較低的 BoM 成本達(dá)到精確測(cè)量的結(jié)果

Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq：DIOD) 今日宣布推出一系列采用高穩(wěn)定性零點(diǎn)漂移架構(gòu)的雙向電流顯示器。這些裝置能夠在廣泛的共模電壓范圍內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量極低感測(cè)電壓。主要產(chǎn)品應(yīng)用項(xiàng)目包括筆記本電腦、電池充電器、工業(yè)伺服裝置、服務(wù)器、服務(wù)器農(nóng)場(chǎng)中的電源機(jī)架和機(jī)器人系統(tǒng)。ZXCT199 系列電流顯示器裝置有六款產(chǎn)品可供選擇，每一款都有一個(gè)高精準(zhǔn)運(yùn)行的精密截波穩(wěn)定運(yùn)算放大器。其低補(bǔ)償電壓使得電流感應(yīng)在分流器上的最大壓降，低至 10mV 滿刻度。這么一來(lái)便能使用平價(jià)、低值的分流電阻器組件來(lái)測(cè)量大電
關(guān)鍵字： Diodes 雙向電流顯示器測(cè)量

從測(cè)量入手，判斷 AI 算法的潛力

人工智能（AI）算法包含三個(gè)基本核心要素：1) 具備測(cè)量能力；2) 知道其中有多少測(cè)量需要進(jìn)一步處理；3) 并行處理多路輸入的能力。是德科技全球企業(yè)和產(chǎn)品營(yíng)銷副總裁 Jeff Harris系統(tǒng)的潛力是指它的可測(cè)性以及可達(dá)到的測(cè)量深度，而潛力的發(fā)揮則指的是決定系統(tǒng)必須將哪些方面的測(cè)量結(jié)果發(fā)送給處理器進(jìn)一步處理。最后，傳感器融合指的是了解如何以正確的比例將不同傳感器的測(cè)量結(jié)果合并在一起，算法的智商有多高，推理的潛力有多大，這是我們探索的關(guān)鍵。通過(guò)反饋環(huán)路增強(qiáng)傳感器融合，算法將能夠校驗(yàn)和糾正自身的邏輯
關(guān)鍵字：是德科技測(cè)量 AI

羅德與施瓦茨推出適合于單通道測(cè)向機(jī)的高性能測(cè)向和監(jiān)測(cè)一體化天線系統(tǒng)

近日，羅德與施瓦茨宣布推出全新高性能 R&S ADD597 測(cè)向和監(jiān)測(cè)一體化天線系統(tǒng)。該系統(tǒng)是固定、移動(dòng)和可搬移式頻譜監(jiān)測(cè)站的關(guān)鍵組件。R&S ADD597結(jié)合使用單通道測(cè)向機(jī)，即使在密集頻譜環(huán)境中也能提供可靠的測(cè)量結(jié)果。系統(tǒng)提供從 20 MHz 至 8.5 GHz（垂直極化）和 20 MHz 至7.5 GHz（水平極化）頻率范圍的高精度測(cè)向能力。 R&S ADD597 具有高精度
關(guān)鍵字：羅德與施瓦茨測(cè)量一體化天線

imc發(fā)布NVH聲學(xué)與振動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)

圖：新版imc WAVE 2022與imc CRONOSflex測(cè)量模塊，聯(lián)手提供性能卓越的NVH數(shù)據(jù)分析。 imc 測(cè)試測(cè)量面向全球用戶，發(fā)布其全新版 imc WAVE 2022 — 這是一款功能強(qiáng)大聲學(xué)與振動(dòng)的軟件，聯(lián)合性能卓越的imc數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，進(jìn)行符合標(biāo)準(zhǔn)的噪聲與振動(dòng)分析。imc WAVE 2022由四個(gè)可相互組合的分析儀組成，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)提供聲功率評(píng)估、結(jié)構(gòu)分析、振動(dòng)和旋轉(zhuǎn)機(jī)械等綜合分析功能。軟件操作簡(jiǎn)單，只需幾步就能指導(dǎo)用戶從配置、校準(zhǔn)、測(cè)量到專業(yè)報(bào)告，縮短設(shè)置時(shí)間，并快速、安全地為N
關(guān)鍵字：聲學(xué) 測(cè)量

用于檢測(cè)裸硅圓片上少量金屬污染物的互補(bǔ)性測(cè)量技術(shù)

I.?前言本文旨在解決硅襯底上的污染問(wèn)題，將討論三種不同的金屬污染。第一個(gè)是鎳擴(kuò)散，又稱為快速擴(kuò)散物質(zhì)[1]，它是從晶圓片邊緣上的一個(gè)污點(diǎn)開始擴(kuò)散的金屬污染。第二個(gè)是鉻污染，它是從Bulk體區(qū)內(nèi)部擴(kuò)散到初始氧化膜[2]，并在晶圓片上形成了一層較厚的氧化物。第三個(gè)是晶圓片邊緣周圍的不銹鋼污染。本文的研究目的是根據(jù)金屬和圖1所示的污染特征找到污染的根源。圖1 三個(gè)金屬污染示例的映射圖。從左至右：鎳擴(kuò)散的微掩膜缺陷圖；較厚的鉻氧化沉積層；晶圓片邊緣上不銹鋼污染電子晶圓片檢測(cè)(EWS)映射圖AI.&nb
關(guān)鍵字：金屬污染測(cè)量熱處理 SPV TXRF

蘋果LiDAR確實(shí)有測(cè)量功能可進(jìn)行空間3D掃描

激光雷達(dá)(LiDAR)通常指「檢測(cè)和測(cè)距」，是一種革命性的掃描和測(cè)量工具。但蘋果(Apple) 的激光雷達(dá)無(wú)法達(dá)到可用于戶外測(cè)量和掃描專業(yè)激光雷達(dá)的水平，不過(guò)可以測(cè)量到距離5米的周圍物體以及進(jìn)行人員位置的追蹤。光電協(xié)進(jìn)會(huì)（PIDA）認(rèn)為，激光雷達(dá)的深度感測(cè)與蘋果的景深攝鏡頭以及先進(jìn)的影像算法相結(jié)合，有可能在未來(lái)成為強(qiáng)大的掃描平臺(tái)，而這些元素的緊密整合可為iPad Pro帶來(lái)了全新的AR體驗(yàn)。蘋果的LiDAR只要與Measurement App配合使用，將可進(jìn)行3D掃描、空間測(cè)量、物體辨識(shí)和分類，主要是針對(duì)
關(guān)鍵字：蘋果 LiDAR 測(cè)量空間3D掃描

無(wú)線水質(zhì)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

簡(jiǎn)介飲料生產(chǎn)、制藥廠、廢水處理廠等多個(gè)行業(yè)都依靠水質(zhì)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)對(duì)重要水質(zhì)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量和控制。定義水的物理、化學(xué)和生物學(xué)特性的參數(shù)可作為水質(zhì)指標(biāo)。例如：◆? ?物理：溫度和濁度◆?? 化學(xué)：pH值、氧化還原電位(ORP)、電導(dǎo)率和溶解氧◆?? 生物學(xué)：藻類和細(xì)菌本文重點(diǎn)討論歷來(lái)不可或缺但不可靠而造成實(shí)施負(fù)擔(dān)的化學(xué)測(cè)量參數(shù)。電化學(xué)是化學(xué)的一個(gè)分支，通過(guò)測(cè)量電子從一種反應(yīng)物到另一種反應(yīng)物的轉(zhuǎn)移來(lái)表征還原-氧化反應(yīng)的行為。電化學(xué)技術(shù)可以直接或間接用于檢測(cè)和
關(guān)鍵字：測(cè)量電化學(xué)

五種三極管測(cè)量方法分享

在生活中具備諸多應(yīng)用，很多朋友對(duì)三極管測(cè)量存在一定困惑，無(wú)法在三極管測(cè)量方面取得相關(guān)進(jìn)展。本文將從五個(gè)方面對(duì)三極管測(cè)量經(jīng)驗(yàn)加以總結(jié)，如果你對(duì)三極管測(cè)量方法具備一定興趣，不妨繼續(xù)往下閱讀正文哦。
關(guān)鍵字：三極管測(cè)量

工程師溫度傳感指南 | 了解設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，掌握解決方案！

在個(gè)人電子產(chǎn)品、工業(yè)或醫(yī)療應(yīng)用的設(shè)計(jì)中，工程師必須應(yīng)對(duì)同樣的挑戰(zhàn)，即如何提升性能、增加功能并縮小尺寸。除了這些考慮因素外，他們還必須仔細(xì)監(jiān)測(cè)溫度以確保安全并保護(hù)系統(tǒng)和消費(fèi)者免受傷害。眾多行業(yè)的另一個(gè)共同趨勢(shì)是需要處理來(lái)自更多傳感器的更多數(shù)據(jù)，進(jìn)一步說(shuō)明了溫度測(cè)量的重要性：不僅要測(cè)量系統(tǒng)或環(huán)境條件，還要補(bǔ)償其他溫度敏感元件，從而確保傳感器和系統(tǒng)的精度。另外一個(gè)好處在于，有了精確的溫度監(jiān)測(cè)，無(wú)需再對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行過(guò)度設(shè)計(jì)來(lái)補(bǔ)償不準(zhǔn)確的溫度測(cè)量，從而可以提高系統(tǒng)性能并降低成本。三大溫度設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)?? &nbs
關(guān)鍵字：溫度測(cè)量監(jiān)測(cè)

Digi-Key Electronics宣布與Analog Devices就創(chuàng)新型MeasureWare平臺(tái)項(xiàng)目建立合作關(guān)系

美國(guó) , 明尼蘇達(dá)州 , 錫夫里弗福爾斯市 - 2019 年 10 月 08 日全球電子元器件分銷商 Digi-Key Electronics 今天宣布，將與 Analog Devices 就全新創(chuàng)新型 MeasureWare 平臺(tái)建立合作關(guān)系。通過(guò)這種多傳感器平臺(tái)，Digi-Key 的客戶能夠立即獲得合格產(chǎn)品的可供貨數(shù)量和定價(jià)，從而著手開始設(shè)計(jì)。Digi-Key 全球供應(yīng)商管理副總裁 David Stein 表示：“Analog Device 選擇我們成為這一全新直觀平臺(tái)的合作伙伴，我們對(duì)此感到由衷地自
關(guān)鍵字：傳感器測(cè)量

ADI的MeasureWare為精確測(cè)量帶來(lái)變革，幫助用戶更好地解讀其世界

近日，中國(guó)北京——Analog Devices, Inc. (ADI)宣布推出MeasureWare，這是一套即插即用的硬件測(cè)量套件和軟件工具，可幫助滿足多個(gè)行業(yè)不斷增長(zhǎng)的精確測(cè)量需求，其中包括精密農(nóng)業(yè)、設(shè)備健康監(jiān)測(cè)、電化學(xué)和其他需要精確測(cè)量的領(lǐng)域。用戶需要實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)洞察能力，但可能缺乏時(shí)間或相關(guān)的專業(yè)知識(shí)，無(wú)法吃透相應(yīng)的數(shù)據(jù)手冊(cè)或進(jìn)行復(fù)雜的固件開發(fā)，MeasureWare?的推出為這些用戶帶來(lái)了ADI的電子工程經(jīng)驗(yàn)。ADI的?MeasureWare?解決方案可將設(shè)備與周圍的
關(guān)鍵字：測(cè)量軟件

共1947條 1/130 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 » ›|

測(cè)量介紹

　　測(cè)量的概念　　所謂測(cè)量，是指用實(shí)驗(yàn)的方法，將被測(cè)量（未知量）與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，以得到被測(cè)量大小的過(guò)程；是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過(guò)程。　　測(cè)量的定義　　1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。　　2.當(dāng)前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。　　測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具，通過(guò)測(cè) [ 查看詳細(xì) ]