老化測(cè)試插座 文章 進(jìn)入老化測(cè)試插座技術(shù)社區(qū)

集成電路老化測(cè)試插座的結(jié)構(gòu)形式

• 　　摘要：集成電路(IC)老化測(cè)試插座(以下簡(jiǎn)稱(chēng)老化測(cè)試插座)主要應(yīng)用于集成電路產(chǎn)品的檢測(cè)、老化、篩選等場(chǎng)合，其最大的用戶(hù)是集成電路器件制造廠。本文對(duì)集成電路老化測(cè)試插座的結(jié)構(gòu)形式做一簡(jiǎn)單的介紹。 　　關(guān)鍵詞：集成電路;老化測(cè)試;插座;表面貼裝;封裝 　　集成電路制造廠對(duì)其生產(chǎn)的每種集成電路封裝器件都要進(jìn)行老化測(cè)試，所以集成電路需求量的迅速增長(zhǎng)，為老化測(cè)試插座產(chǎn)業(yè)也提出了更高的要求，必須具備與產(chǎn)量和品種相適應(yīng)的老化測(cè)試插座。老化測(cè)試插座是對(duì)集成電路進(jìn)行可靠性驗(yàn)證和各類(lèi)環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)的必備的試驗(yàn)裝置。
• 關(guān)鍵字： 集成電路  老化測(cè)試插座  201105