- 摘要：集成電路(IC)老化測試插座(以下簡稱老化測試插座)主要應用于集成電路產品的檢測、老化、篩選等場合，其最大的用戶是集成電路器件制造廠。本文對集成電路老化測試插座的結構形式做一簡單的介紹。
關鍵詞：集成電路;老化測試;插座;表面貼裝;封裝
集成電路制造廠對其生產的每種集成電路封裝器件都要進行老化測試，所以集成電路需求量的迅速增長，為老化測試插座產業(yè)也提出了更高的要求，必須具備與產量和品種相適應的老化測試插座。老化測試插座是對集成電路進行可靠性驗證和各類環(huán)境適應性試驗的必備的試驗裝置。
- 關鍵字：
集成電路 老化測試插座 201105
老化測試插座介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條老化測試插座!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對老化測試插座的理解，并與今后在此搜索老化測試插座的朋友們分享。
創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
