首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 老化試驗(yàn)

LED常規(guī)性老化試驗(yàn)對比

  • 一般來說，尤其是大功率LED在初始點(diǎn)亮階段光度都會有一定的衰減，led封裝廠為了提供給應(yīng)用端廠商發(fā)光穩(wěn)定的產(chǎn)品...
  • 關(guān)鍵字： LED  常規(guī)性  老化試驗(yàn)  

通用微處理器等效老化試驗(yàn)方法分析與研究

共2條 1/1 1

老化試驗(yàn)介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條老化試驗(yàn)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對老化試驗(yàn)的理解，并與今后在此搜索老化試驗(yàn)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473