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通用微處理器等效老化試驗(yàn)方法分析與研究
- 摘要：針對(duì)不同工藝、不同設(shè)計(jì)的功能全兼容集成電路等效老化的需要，提取出了集成電路等效老化的特征參數(shù)—“歸...
- 關(guān)鍵字： 老化試驗(yàn) 應(yīng)力水平 電流的影響 分布電容 結(jié)溫 實(shí)驗(yàn)值 激活能 靜態(tài)功耗 組合邏輯 微處理器
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