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安捷倫推出第一個非向量測試功能及測量技術(shù)

  • 安捷倫推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術(shù)。 這一測試功能是在世界上第一次包括NPM測量技術(shù)。用戶可以檢測連接器上電源管腳和接地管腳中的開路，而許多業(yè)內(nèi)人士曾一度認(rèn)為這超出了現(xiàn)有測試能力的范圍。 隨著信號在電路板上傳輸?shù)乃俣仍絹碓礁撸缭赑CIe、DDR和SATA 連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著速度提高，接地針腳上的開路可能會導(dǎo)致信號集成的設(shè)計范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提
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非向量介紹

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