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安捷倫推出第一個(gè)非向量測(cè)試功能及測(cè)量技術(shù)

  • 安捷倫推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測(cè)試功能組成的套件，其中包括新的NPM測(cè)量技術(shù)。 這一測(cè)試功能是在世界上第一次包括NPM測(cè)量技術(shù)。用戶可以檢測(cè)連接器上電源管腳和接地管腳中的開(kāi)路，而許多業(yè)內(nèi)人士曾一度認(rèn)為這超出了現(xiàn)有測(cè)試能力的范圍。 隨著信號(hào)在電路板上傳輸?shù)乃俣仍絹?lái)越高，如在PCIe、DDR和SATA 連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著速度提高，接地針腳上的開(kāi)路可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)集成的設(shè)計(jì)范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提
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非向量介紹

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