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基于33CX201的可控硅快速測試儀電路圖

  • 如圖所示為可控硅快速測試電路,主要由555組成。該測試儀由脈沖信號發(fā)生器、閉合導通環(huán)路、發(fā)光二極管、可控硅SCR等組成。插上可控硅SCR,
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33cx201可控硅快速測試介紹

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