基于33CX201的可控硅快速測試儀電路圖

如圖所示為可控硅快速測試電路，主要由555組成。該測試儀由脈沖信號發(fā)生器、閉合導(dǎo)通環(huán)路、發(fā)光二極管、可控硅SCR等組成。插上可控硅SCR，當(dāng)按下按鈕AN后，在555輸出高電平時，發(fā)光二極管LED1、電阻R4、可控硅SCR、晶體管BG2形成閉合回路，發(fā)光管LED1發(fā)光；當(dāng)555輸出低電平時，LED2、R4、SCR、BG1形成閉合回路，發(fā)光管LED2發(fā)光，說明可控硅是好的。在測試時插上可控硅SCR后，發(fā)光管LED1、LED2應(yīng)不亮，否則說明T1、T2的兩極已短接。多諧振蕩器，其振蕩頻率為f=1.44/(R1+2R2)C。圖示參數(shù)對應(yīng)的振蕩頻率約為1Hz。由于R1<脈沖發(fā)生器輸出脈沖的占空比接近1:1。

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