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抗輻射晶體管3DK9DRH的貯存失效分析

  • 為了找到并糾正抗輻射晶體管3DK9DRH貯存失效的原因,利用外部檢查、電性能測(cè)試、檢漏、內(nèi)部水汽檢測(cè)、開封檢查等試驗(yàn)完成了對(duì)晶體管3DK9DRH的一種貯存失效分析。結(jié)果表明晶體管存在工藝問題,內(nèi)部未進(jìn)行水汽控制,加上內(nèi)部硫元素過高,長期貯存后內(nèi)部發(fā)生了氧化腐蝕反應(yīng),從而導(dǎo)致晶體管功能失效。對(duì)此建議廠家對(duì)晶體管的生產(chǎn)工藝進(jìn)行檢查,對(duì)水汽和污染物如硫元素等加以控制,及時(shí)剔除有缺陷的晶體管。
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