首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> bib

Multitest獲得多份老化測試板續(xù)訂訂單

  •   德國羅森漢姆,2011年8月----Multitest的老化測試產(chǎn)品事業(yè)部從一家大型歐洲汽車IDM那里獲得了多份老化測試板續(xù)訂訂單。   Multitest的老化測試板(BIB)業(yè)務(wù)始于2010年,充分發(fā)揮其在ATE板設(shè)計、制造和組裝方面的能力及其測試座和測試方面的技術(shù)專知。迄今為止,Multitest已經(jīng)在20家客戶取得了資格,其中包括大型國際IDM。應(yīng)用范圍從4G無線產(chǎn)品、航空航天應(yīng)用、系統(tǒng)單晶片到微處理器。
  • 關(guān)鍵字: Multitest  BIB  
共1條 1/1 1

bib介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條bib!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對bib的理解,并與今后在此搜索bib的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473