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效率最好的內(nèi)存測試電路開發(fā)環(huán)境

  • 　　1.概述：整合性內(nèi)存自我測試電路產(chǎn)生環(huán)境-Brains　　Brains是從整體的芯片設(shè)計切入，利用硬件架構(gòu)共享的觀念，可以大幅減少測試電路的門數(shù)?(Gate?Count)，并且讓使用者能輕易產(chǎn)生優(yōu)化的BIST電路。Brains可以自動的判讀內(nèi)存并將其分群?(Grouping)，從產(chǎn)品設(shè)計前端大幅提升測試良率、降低測試成本，提高產(chǎn)業(yè)競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線式架構(gòu)，可以滿足快速內(nèi)存測試的需求，目前最高測試的速度已經(jīng)可以達到1.2GHz，整體BIST電路的門
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歐洲的“e-BRAINS”研究項目

  • 2010年9月，英飛凌科技股份公司與19家合作伙伴攜手合作，啟動了歐洲e-BRAINS（最可靠的環(huán)境智能納米傳感器系統(tǒng)）研究項目，圍繞異構(gòu)系統(tǒng)的集成展開研究。這個項目由英飛凌和弗勞恩霍夫模塊化固態(tài)技術(shù)研究所負責(zé)技術(shù)管理，將于2013年底完成。納米傳感器將與IC（集成電路）、功率半導(dǎo)體、電池或無線通信模塊等組件結(jié)合使用，從而大幅提升e-BRAINS應(yīng)用的能源效率、成本效益、使用壽命和運行可靠性。
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