首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> cer

原子級工藝實(shí)現(xiàn)納米級圖形結(jié)構(gòu)的要求

  • 原子層刻蝕和沉積工藝?yán)米韵扌苑磻?yīng)，提供原子級控制。泛林集團(tuán)先進(jìn)技術(shù)發(fā)展事業(yè)部公司副總裁潘陽博士?分享了他對這個(gè)話題的看法。圖 1.?原子層工藝中的所有半周期反應(yīng)是自限性反應(yīng)。技術(shù)節(jié)點(diǎn)的每次進(jìn)步都要求對制造工藝變化進(jìn)行更嚴(yán)格的控制。最先進(jìn)的工藝現(xiàn)在可以達(dá)到僅7 nm的fin寬度，比30個(gè)硅原子稍大一點(diǎn)。半導(dǎo)體制造已經(jīng)跨越了從納米級到原子級工藝的門檻。工程師現(xiàn)在必須關(guān)注結(jié)構(gòu)的尺寸變化，僅相當(dāng)于幾個(gè)原子大小。由于多重圖案模式等復(fù)雜集成增加了工藝數(shù)量，進(jìn)一步限制了每個(gè)步驟允許的變化。3D N
  • 關(guān)鍵字： ALE  ALD  CER  EPE  SAC  CAR  

高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換誤差率的解密

  • 　　高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)存在一些固有限制，使其偶爾會在其正常功能以外產(chǎn)生罕見的轉(zhuǎn)換錯誤。但是，很多實(shí)際采樣系統(tǒng)不容許存在高ADC轉(zhuǎn)換誤差率。因此，量化高速模數(shù)轉(zhuǎn)換誤差率(CER)的頻率和幅度非常重要?！　「咚倩騁SPS ADC(每秒千兆采樣ADC)相對稀疏出現(xiàn)的轉(zhuǎn)換錯誤不僅造成其難以檢測，而且還使測量過程非常耗時(shí)。該持續(xù)時(shí)間通常超出毫秒范圍，達(dá)到幾小時(shí)、幾天、幾周甚至是幾個(gè)月。為了幫助消減這一耗時(shí)測試負(fù)擔(dān)，可以在一定“置信度”的確定性情況下估算誤差率，而仍然保持結(jié)果的質(zhì)量?！　≌`碼率(BER
  • 關(guān)鍵字： ADC  CER  
共2條 1/1 1

cer介紹

目錄 1 CER 2 相關(guān)術(shù)語 3 數(shù)字證書的原理 4 數(shù)字證書 CER-CER 用于存儲公鑰證書的文件格式。 CER-相關(guān)術(shù)語 公鑰和私鑰就是俗稱的不對稱加密方式，是從以前的對稱加密（使用用戶名與密碼）方式的提高。用電子郵件的方式說明一下原理。 使用公鑰與私鑰的目的就是實(shí)現(xiàn)安全的電子郵件，必須實(shí)現(xiàn)如下目的： 1.我發(fā) [ 查看詳細(xì) ]

相關(guān)主題

熱門主題

Acer    Certitude    data-slicer    樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473