首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> dura-kelvin

Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本

  •   面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其Dura?Kelvin測試座再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura?Kelvin測試座顯著降低了總體測試成本。   在項目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura?Kelvin明顯超過了所有目標(biāo),使用壽命已超過4百萬次插撥,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98
  • 關(guān)鍵字: Multitest  測試座  Dura-Kelvin  
共1條 1/1 1

dura-kelvin介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條dura-kelvin!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對dura-kelvin的理解,并與今后在此搜索dura-kelvin的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473