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T/R組件波束控制測試方案設計

• 　　1引言 　　信息技術的發(fā)展早已滲透到國民經(jīng)濟的各個領域，而雷達技術自問世以來就已經(jīng)在軍事領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。為適應人造地球衛(wèi)星及彈道導彈的觀測要求，有源相控陣雷達技術獲得了飛速發(fā)展。 　　T/R組件波束控制電路是有源相控陣雷達上的關鍵元器件。波束控制電路一般為定制專用芯片，不同的波控電路差異較大，但是其主要的工作原理及內(nèi)部結構大致相同。由于具有專用性，波束控制電路的測試比較麻煩。本文分析了波束控制電路的主要內(nèi)部結構，找出電路測試中的難點，提出一種解決方案，并給出設計原理與結構，為該類電路的測
• 關鍵字： T/R  Intersil  EL7457