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GX5295數(shù)字IO&PMU功能在半導(dǎo)體Continuity 測(cè)試中的應(yīng)用

  • 　　本文以Texas?Instruments?20針TSSOP封裝的SN74HC273為例介紹使用GX5295的直流參數(shù)測(cè)量單元(PMU)對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行Continuity測(cè)試。　　關(guān)鍵詞：　　GX5295,?PMU,?Parametric,?Continuity?Test,?Semiconductor?Test,?ATEasy　　Introduction　　在測(cè)試半導(dǎo)體器件的功能之前，通常需要驗(yàn)證器件的結(jié)構(gòu)完整性
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