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基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

  • 先進的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設(shè)備(ATE)測試，以達到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導(dǎo)體市場在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
  • 關(guān)鍵字： MEMS開關(guān)  SoC測試  

應(yīng)用混合游程編碼的SOC測試數(shù)據(jù)壓縮方法

  • 提出了一種有效的基于游程編碼的測試數(shù)據(jù)壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應(yīng)解碼電路硬件開銷小的突出特點. 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測試數(shù)據(jù)中不確定位的填充策略有很大的關(guān)系
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  數(shù)據(jù)壓縮  位填充  游程編碼  

采用可升級測試平臺迎接SoC測試的挑戰(zhàn)

  • 系統(tǒng)級芯片(SoC)現(xiàn)在是半導(dǎo)體業(yè)界一個很熱門的字眼，可以說是工程突破及新型應(yīng)用的同義詞。由于人們對消費產(chǎn)...
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  可升級測試平臺  

SoC測試技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和發(fā)展趨勢

  • 中國是全球半導(dǎo)體市場成長最快的區(qū)域，預(yù)計每年增長率超過25%，原因在于中國已經(jīng)成為全球集成電路消費的中心、...
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  IC  上市時間  
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soc測試介紹

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