首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> soc矢量

SoC設(shè)計中結(jié)構(gòu)測試儀的矢量生成原理

  • 深亞微米和納米設(shè)計中出現(xiàn)了新的缺陷類型，單開發(fā)和使用功能性矢量已經(jīng)無法滿足對產(chǎn)品測試的實際需求。掃描、AC掃描、邏輯內(nèi)建自測試(LBIST)和存儲器BIST這類結(jié)構(gòu)測試方法為理解設(shè)計規(guī)范、識別生產(chǎn)和設(shè)計中的缺陷、描繪和監(jiān)控產(chǎn)品生產(chǎn)過程以及加速產(chǎn)品上市提供了一種更加有效的方法。
  • 關(guān)鍵字： SoC矢量  
共1條 1/1 1

soc矢量介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條soc矢量!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對soc矢量的理解，并與今后在此搜索soc矢量的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473