首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> tapc

基于JTAG的星型掃描接口的設計及其仿真

  • 　　邊界掃描測試技術飛速發(fā)展，測試與調(diào)試功能不斷增強，硬件IP模塊向集成多個內(nèi)核方向發(fā)展，以往芯片中傳統(tǒng)的測試訪問端口(TAP)中嵌入單一的測試訪問端口控制器(TAPC)逐漸被系統(tǒng)芯片中嵌入多個TAPC所取代。為使單芯片中集成多TAPC的操作規(guī)范標準化，2009年提出的新的測試標準IEEE 1149.7。為解決系統(tǒng)集成復雜度越來越高所帶來的測試調(diào)試任務困難，標準規(guī)范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測試訪問端口(在本文中稱為TAP.7接口)，其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器
  • 關鍵字： JTAG  TAPC  
共1條 1/1 1

tapc介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條tapc!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對tapc的理解，并與今后在此搜索tapc的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473