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R&S發(fā)布用于復(fù)雜電子電路測(cè)試的嶄新測(cè)試模塊 TS-PHDT

• 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進(jìn)行大量數(shù)據(jù)運(yùn)算的領(lǐng)域，快速數(shù)字功能性測(cè)試也可以實(shí)現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測(cè)試模塊R&S TS-PHDT支持高達(dá)40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲(chǔ)容量。測(cè)試電子組件所需要的激勵(lì)信號(hào)、期望值以及實(shí)測(cè)值都可以存儲(chǔ)在本地。由于模塊內(nèi)部能實(shí)時(shí)對(duì)比實(shí)測(cè)值與期望值，記錄的測(cè)試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測(cè)試時(shí)間。 R&S TS PHDT，這個(gè)小
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