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為何要組合使用低通濾波器和ADC驅(qū)動器?
- 為了減小模擬信號鏈的尺寸,降低其成本,并提供ADC抗混疊保護(ADC采樣頻率周圍頻段中的ADC輸入信號不受數(shù)字濾波器保護,必須由模擬低通濾波器(LPF)進行衰減)。20 V p-p LPF驅(qū)動器一般用于工業(yè)、科技和醫(yī)療(ISM)設(shè)備中,該設(shè)備必須使用具有更低滿量程輸入的高速ADC對傳統(tǒng)的20 V p-p信號范圍進行數(shù)字化處理。問題:為何要組合使用低通濾波器(LPF)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)驅(qū)動器?答案:為了減小模擬信號鏈的尺寸,降低其成本,并提供ADC抗混疊保護(ADC采樣頻率周圍頻段中的ADC輸入信號不受
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血氧儀開發(fā)方案,帶有12位ADC檢測、LED屏顯的語音芯片IC,WTV380
- 單片機的運用,在一些小型產(chǎn)品設(shè)計領(lǐng)域被廣泛使用,在消費類、醫(yī)療行業(yè)、小家電等行業(yè)中,無處不是單片機的身影;本次為大家介紹的是一款由深圳唯創(chuàng)知音基于WTV380單片機語音芯片,研發(fā)的一款血氧儀開發(fā)方案;血氧儀是一個定制化大的產(chǎn)品,因此血氧儀MCU芯片一般采用帶有高精度的ADC,這么一來,MCU的定制成本也會高出一些,如何降低單片機的開發(fā)成本,降低整體研發(fā)成本,成為產(chǎn)品開發(fā)的難題;深圳唯創(chuàng)知音研發(fā)可一款,帶有12位ADC檢測、LED指示燈顯示驅(qū)動、語音播放為一體的單片機語音芯片——WTV380,芯片采用4x4
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ADC/DAC精度計算器教程
- 精度計算器(ACCU)有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計和分析。它計算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計算器或免費的PC模擬器。精度計算器(ACCU)有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計和分析。它計算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計算器或免費的PC模擬器。介紹Steve Edwards是一位經(jīng)驗豐富的模擬設(shè)計工程師,他編寫了幾個計算器來自動執(zhí)行重復(fù)性任務(wù)。這些工具正在共享,以幫助其他模擬設(shè)計工程師選擇、指定和表征模擬電路。我們將總結(jié)一個這樣的工具的功能,即精度計算器。精度計
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采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進行ADC和音頻測試的高性能信號源
- 摘要要測試精密儀器儀表,需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(例如ADMX1002)利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡化了這一任務(wù),這些轉(zhuǎn)換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外,加入一種創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真算法可以進一步增強測試信號的保真度,從而以低成本的小尺寸實現(xiàn)出色的低失真信號。簡介隨著精密模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和高保真音頻設(shè)備(CODEC、MEMS麥克風(fēng)等)不斷發(fā)展,越來越需要在自動化測試設(shè)備(ATE)中生成高性能的音頻和任意信號。要描述、驗
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如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度
- 大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的,因此必須數(shù)字化后才可用于當(dāng)前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是,本文還將說明如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度,同時減少元件數(shù)目,降低成本,節(jié)省電路板空間。大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的,因此必須數(shù)字化后才可用于當(dāng)前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是,本文還將說明如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度,同時減少元件數(shù)目,降低成本,節(jié)
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FPGA與ADC數(shù)字數(shù)據(jù)輸出的接口
- 現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)輸出的接口是一項常見的工程設(shè)計挑戰(zhàn)。本文簡要介紹各種接口協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn),并提供有關(guān)在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)方案中使用LVDS的應(yīng)用訣竅和技巧。接口方式和標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)數(shù)字數(shù)據(jù)輸出的接口是一項常見的工程設(shè)計挑戰(zhàn)。此外,ADC使用多種多樣的數(shù)字數(shù)據(jù)樣式和標(biāo)準(zhǔn),使這項挑戰(zhàn)更加復(fù)雜。對于通常在200 MHz以下的低速數(shù)據(jù)接口,單倍數(shù)據(jù)速率(SDR) CMOS非常普遍:發(fā)送器在一個時鐘沿傳送數(shù)據(jù),接收器在另一個時鐘沿接收數(shù)據(jù)。這種方式
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基于熱敏電阻的溫度檢測系統(tǒng)的優(yōu)化與評估
- 正如本系列文章《基于熱敏電阻的溫度測量系統(tǒng)的設(shè)計挑戰(zhàn)和電路配置》所討論的,設(shè)計和優(yōu)化基于熱敏電阻的應(yīng)用解決方案涉及到不同挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)包括上一篇文章中討論過的傳感器選擇和電路配置,其他挑戰(zhàn)有測量優(yōu)化——包括ADC配置和選擇外部元件,同時確保ADC在規(guī)格范圍內(nèi)運行以及系統(tǒng)優(yōu)化,從而實現(xiàn)目標(biāo)性能并確定與ADC和整個系統(tǒng)相關(guān)的誤差源。熱敏電阻系統(tǒng)優(yōu)化通過熱敏電阻配置器和誤差預(yù)算計算器等易于使用的工具,客戶可以輕松配置系統(tǒng)中的熱敏電阻,包括接線和連接圖。該工具以比率式配置設(shè)計具有激勵電壓的熱敏電阻系統(tǒng)。它還允許客
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改善你的ADC SNR性能指標(biāo),試試這款濾波器!
- 獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號的問題,提供一個低噪聲基準(zhǔn)電壓是同等重要。雖然基準(zhǔn)噪聲在零標(biāo)度沒有影響,但是在全標(biāo)度,基準(zhǔn)上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見的。對于某個給定的ADC,在零標(biāo)度測量的動態(tài)范圍(DR)之所以通常比在全標(biāo)度或接近全標(biāo)度測量的信噪比(SNR)高出幾個dB,原因即在于此。在ADC的SNR有可能超過140dB的過采樣應(yīng)用中,提供一個低噪聲基準(zhǔn)電壓是特別重要。如欲實現(xiàn)這種水平的SNR,即使是最好的低噪聲基準(zhǔn)也需要一些幫助以降低其噪聲電平。能夠降低基準(zhǔn)噪聲的替
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什么是A/D轉(zhuǎn)換器(ADC)
- 1、概述 D/A轉(zhuǎn)換器(Digital to Analog Converter)——能把數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電子器件(簡稱為DAC)?! /D轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital Converter)——能把模擬量轉(zhuǎn)換成相應(yīng)數(shù)字量的電子器件(簡稱為ADC)?! /D轉(zhuǎn)換器把模擬量轉(zhuǎn)換成數(shù)字量,以便于單片機進行數(shù)據(jù)處理。A/D轉(zhuǎn)換一般要經(jīng)過采樣、保持、量化及編碼4個過程。在實際電路中,有些過程是合并進行的,如采樣和保持,量化和編碼在轉(zhuǎn)換過程中是同時實現(xiàn)的?! ∧壳皢纹腁DC芯片較多,對設(shè)計者來
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Teledyne e2v 就 “了解ADX4 IP可在任何輸入頻率和溫度下提高ADC的射頻性能” 發(fā)布演示視頻
- 本視頻教程闡述了如何創(chuàng)建一個Vivado工程,以及如何基于VHDL設(shè)計案例和EV12AQ600-ADX-EVM演示板,在Kintex Ultrascale FPGA上實現(xiàn)ADX4 IP。本教程還介紹了加載FPGA比特流、使用Vivado檢索ADX4 IP處理的采樣數(shù)據(jù)以及使用Python圖形用戶界面(GUI)分析SFDR性能的所有步驟。?更多信息,請點擊下面的鏈接:視頻:https://v.qq.com/x/page/x33447iyn93.htmlADX4 IP Teledyne SP Dev
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燦芯半導(dǎo)體推出高精度16位SAR ADC
- 一站式定制芯片及IP供應(yīng)商——燦芯半導(dǎo)體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型(16bit SAR)ADC。該IP首個測試芯片基于中芯國際55nm工藝流片成功,現(xiàn)已完成EVB測試,可提供給客戶進行評估。 該IP采樣率為1MHz, ENOB(有效位)可達14bit,通常情況下其DNL(微分線性誤差)介于-0.4LSB至0.47LSB之間,INL(積分線性誤差)居于-1.8LSB至2.2LSB之間,其典型功耗是4.25mA,性能指標(biāo)處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。燦芯半導(dǎo)體深耕高精度12/14/16 bit SAR
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ADI新型Easy Drive SAR ADC 簡化設(shè)計并提供領(lǐng)先性能
- 亞德諾半導(dǎo)體(Analog Devices,ADI)推出新一代16至24位超高精度逐次漸近緩存器(SAR)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)系列產(chǎn)品,可簡化在儀器儀表、工業(yè)和醫(yī)療健康應(yīng)用領(lǐng)域中復(fù)雜的ADC設(shè)計。新型高性能SAR ADC系列采用ADI專利的Easy Drive技術(shù)和通用Flexi-SPI串行周邊接口(SPI),可因應(yīng)系統(tǒng)設(shè)計挑戰(zhàn)并擴大直接兼容的配套產(chǎn)品選擇范圍。ADI的Easy Drive技術(shù)在保持組件性能的同時亦克服傳統(tǒng)系統(tǒng)級設(shè)計挑戰(zhàn),例如嚴格的布局指南及數(shù)字接口時序要求,以及復(fù)雜的配套產(chǎn)品選擇。通
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優(yōu)化邊緣節(jié)點設(shè)計,加速人工智能應(yīng)用落地
- 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)(IoT) 正在醞釀廣泛的轉(zhuǎn)變,這種轉(zhuǎn)變不僅將使互聯(lián)機器間的相互檢測成為一種競爭優(yōu)勢,還將使其成為必不可少的基本服務(wù)。工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)以邊緣節(jié)點為起始點,后者是檢測和測量的目標(biāo)切入點。這是物理世界與計算數(shù)據(jù)分析進行交互的接口所在?;ヂ?lián)的工業(yè)機器可檢測大量的信息,進而用于制定關(guān)鍵決策。這種邊緣傳感器可能遠離存儲歷史分析的云服務(wù)器。它必須通過將邊緣數(shù)據(jù)聚合到互聯(lián)網(wǎng)的網(wǎng)關(guān)進行連接。理想情況下,邊緣傳感器節(jié)點具有很小的規(guī)格尺寸,可在空間受限的環(huán)境中輕松進行部署。解決邊緣節(jié)點的檢測、測量、解讀與連接挑戰(zhàn)數(shù)據(jù)可以
- 關(guān)鍵字: 202204 ADC 模擬信號鏈 OtoSense MEMS加速度計
sar adc介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對sar adc的理解,并與今后在此搜索sar adc的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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