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精密DAC連續(xù)更新需考慮的二階效應(yīng)
- 簡介 精密模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的每秒采樣數(shù)具有明確定義且經(jīng)過測試,精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)則不然,其數(shù)據(jù)手冊中并未對此加以定義,因?yàn)镈AC的每秒采樣數(shù)取決于許多因素?! 《鄶?shù)情況下,DAC數(shù)字接口支持高達(dá)50 MHz的時(shí)鐘速率,假設(shè)輸入移位寄存器為24位,則每秒可以執(zhí)行2,000,000次寫操作。然而,此數(shù)值僅表示數(shù)字接口接受新DAC碼的能力,沒有考慮數(shù)字處理延遲、時(shí)延以及模擬模塊定時(shí)?! ∪绻鸇AC無任何內(nèi)部校準(zhǔn)程序,則延遲可以忽略,通常在數(shù)ns左右。如果DAC包含校準(zhǔn)例行程序,則延遲可
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ADC模塊誤差的定義、影響和校正方法分享
- ADC模塊誤差的定義、影響和校正方法分享-常用的A/D轉(zhuǎn)換器主要存在:失調(diào)誤差、增益誤差和線性誤差。這里主要討論失調(diào)誤差和增益誤差。提出一種用于提高TMS320F2812ADC精度的方法,使得ADC精度得到有效提高。
- 關(guān)鍵字: ADC
模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作原理、類型及主要技術(shù)指標(biāo)
- 模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作原理、類型及主要技術(shù)指標(biāo)-模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital Converter,簡稱A/D轉(zhuǎn)換器,或ADC),通常是將模擬信號轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號。作為模擬電路中重要的元器件,本文將會介紹模數(shù)轉(zhuǎn)換器的原理、分類及技術(shù)指標(biāo)等基礎(chǔ)知識。
- 關(guān)鍵字: 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ADC 逐次?逼近型ADC
一種用于測量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測試方法
- 一種用于測量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測試方法-犯錯(cuò)乃人之常情。但對于系統(tǒng)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),我們能夠提出什么樣的要求呢?我們將回顧轉(zhuǎn)換誤差率(CER)測試的范圍和高速ADC的分析。
- 關(guān)鍵字: ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器
一種用于測量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測試方法
- 許多實(shí)際高速采樣系統(tǒng),如電氣測試與測量設(shè)備、生命系統(tǒng)健康監(jiān)護(hù)、雷達(dá)和電子戰(zhàn)對抗等,不能接受較高的ADC轉(zhuǎn)換誤差率。這些系統(tǒng)要在很寬的噪聲頻譜上尋找極其罕見或極小的信號。誤報(bào)警可能會引起系統(tǒng)故障。因此,我們必須能夠量化高速ADC轉(zhuǎn)換誤差率的頻率和幅度?! ER與BER 首先,讓我們理清誤差率描述中的兩大差異。轉(zhuǎn)換誤差率(CER)通常是ADC關(guān)于模擬電壓采樣的判斷不正確的結(jié)果,因此,與轉(zhuǎn)換器輸入的滿量程范圍相比較,其相應(yīng)的數(shù)字碼也不正確。ADC的誤碼率(BER)也能描述類似的誤差,但就我們的討論而言,
- 關(guān)鍵字: ADC
基于高性能ADC的磁共振成像發(fā)送/接收架構(gòu)
- 磁共振成像(MRI)系統(tǒng)能夠提供清晰的人體組織圖像,系統(tǒng)檢測并處理氫原子在強(qiáng)磁場中受到共振磁場激勵脈沖的激發(fā)后所生成的信號。氫原子核的自旋運(yùn)動決定了它自身的固有磁矩,在強(qiáng)磁場作用下,這些氫原子將定向排
- 關(guān)鍵字: ADC 磁共振成 發(fā)送/接收架構(gòu)
利用高速信號鏈提高醫(yī)學(xué)成像質(zhì)量
- 僅僅增加傳感器和信號鏈,可能會引發(fā)包括系統(tǒng)尺寸及功耗增大在內(nèi)的不利影響。但是,用于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的最新一代信號鏈組件使醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員既能改善信號鏈密度和功耗,同時(shí)又不影響動態(tài)性能——即系統(tǒng)同時(shí)實(shí)現(xiàn)更高的成像質(zhì)量、更低的功耗及更小的尺寸。
- 關(guān)鍵字: 高速信號鏈 醫(yī)學(xué)成像 傳感器陣列 ADC
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