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基于微差原理的A/D轉(zhuǎn)換方法分析應(yīng)用

1　引言　　　　在計(jì)算機(jī)測(cè)控系統(tǒng)對(duì)多路參量進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)時(shí)，常常需要精確檢測(cè)各參量在一段較短時(shí)間內(nèi)的變化量。由于一般A／D轉(zhuǎn)換器分辨率有限，若直接測(cè)量被測(cè)量，再把不同時(shí)刻的測(cè)量結(jié)果相減以求得其變化量，將會(huì)造成有效位數(shù)的嚴(yán)重?fù)p失而難以保障測(cè)量精度，尤其在輸入信號(hào)遠(yuǎn)小于滿量程時(shí)情況更加明顯。目前高分辨率單片集成式A／D轉(zhuǎn)換器大多為低速型的，高速的A／D轉(zhuǎn)換器價(jià)格昂貴且難以實(shí)現(xiàn)16位以上的分辨率。因此，這時(shí)可采用微差法以提高測(cè)量精度。文獻(xiàn)［1］提出了一種提高A／D轉(zhuǎn)換分辨
關(guān)鍵字：模擬技術(shù) 電源技術(shù) 微差原理 A/D轉(zhuǎn)換模擬IC 電源

1　引言　　在計(jì)算機(jī)測(cè)控系統(tǒng)對(duì)多路參量進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)時(shí)，常常需要精確檢測(cè)各參量在一段較短時(shí)間內(nèi)的變化量。由于一般A／D轉(zhuǎn)換器分辨率有限，若直接測(cè)量被測(cè)量，再把不同時(shí)刻的測(cè)量結(jié)果相減以求得其變化量，將會(huì)造成有效位數(shù)的嚴(yán)重?fù)p失而難以保障測(cè)量精度，尤其在輸入信號(hào)遠(yuǎn)小于滿量程時(shí)情況更加明顯。目前高分辨率單片集成式A／D轉(zhuǎn)換器大多為低速型的，高速的A／D轉(zhuǎn)換器價(jià)格昂貴且難以實(shí)現(xiàn)16位以上的分辨率。因此，這時(shí)可采用微差法以提高測(cè)量精度。文獻(xiàn)［1］提出了一種提高A／D轉(zhuǎn)換分辨率的方法，其思路即基于微差法的
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