靜電放電抗擾度測(cè)試經(jīng)常存在的問題及整改方案

1、靜電放電產(chǎn)生的原因

靜電放電現(xiàn)象在生活中非常普遍，在干燥的環(huán)境中極易發(fā)生，靜電可以有多種原因產(chǎn)生。電荷累積使物體間存在電勢(shì)差，接觸或者相互靠近過程會(huì)產(chǎn)生電荷瞬間移動(dòng)，就會(huì)形成靜電放電[2]。摩擦帶電：物質(zhì)由原子組成，原子的基本結(jié)構(gòu)為質(zhì)子、中子及電子。正常狀況下，正質(zhì)子與負(fù)電子數(shù)量相同，正負(fù)電平衡，物體不帶電。但環(huán)境條件變化會(huì)使原子的正負(fù)電不平衡。前文所述的摩擦本質(zhì)上是不斷接觸與分離的過程。感應(yīng)帶電：靜電放電現(xiàn)象并不都是摩擦產(chǎn)生，還有感應(yīng)靜電放電。帶電體的電場(chǎng)會(huì)在靠近的物體上造成電荷分離，只要物體帶電就會(huì)在周圍產(chǎn)生電場(chǎng)，靠近的物體就會(huì)感應(yīng)帶電。

2、什么是靜電放電？

 靜電放電（Electrostatic Discharge，簡(jiǎn)稱ESD）是指由于兩個(gè)不同物體之間的摩擦、接觸或分離而產(chǎn)生的靜電荷的迅速轉(zhuǎn)移現(xiàn)象。靜電放電會(huì)產(chǎn)生高壓、高溫、高頻和強(qiáng)磁場(chǎng)等效應(yīng)，對(duì)電子設(shè)備造成嚴(yán)重的損害。因此，評(píng)估電子設(shè)備對(duì)靜電放電的抗擾度（Electrostatic Discharge Immunity，簡(jiǎn)稱ESD）是非常重要的。靜電放電抗擾度測(cè)試是指在模擬實(shí)際使用環(huán)境中，對(duì)被測(cè)設(shè)備施加不同強(qiáng)度的靜電放電脈沖，并觀察其性能變化和故障現(xiàn)象，以判斷其抗擾度等級(jí)的測(cè)試。靜電放電抗擾度測(cè)試是電磁兼容（Electromagnetic Compatibility，簡(jiǎn)稱EMC）測(cè)試的一部分，也是國(guó)際上通用的一種測(cè)試方法。

3、試驗(yàn)對(duì)象：

該標(biāo)準(zhǔn)所涉及的是處于靜電放電環(huán)境中和安裝條件下的裝置、系統(tǒng)、子系統(tǒng)和外部設(shè)備。4、試驗(yàn)內(nèi)容：
靜電放電的起因有多種，但該標(biāo)準(zhǔn)主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使操作者積累了靜電。電子和電氣設(shè)備遭受直接來自操作者的靜電放電和對(duì)臨近物體的靜電放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)方法。
5、試驗(yàn)?zāi)康模?/strong>
試驗(yàn)單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電。（2）人或物體對(duì)鄰近物體的放電。
6、試驗(yàn)布置框圖：

7、靜電放電抗擾度測(cè)試有哪些常見問題？
在實(shí)際進(jìn)行靜電放電抗擾度測(cè)試時(shí)，可能會(huì)遇到一些常見問題，例如：
?被測(cè)設(shè)備無法正常啟動(dòng)或運(yùn)行；
?被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)死機(jī)、重啟、復(fù)位等現(xiàn)象；?被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)誤動(dòng)作、誤報(bào)警、誤顯示等現(xiàn)象；?被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)功能丟失、性能下降、數(shù)據(jù)丟失等現(xiàn)象；?被測(cè)設(shè)備出現(xiàn)燒毀、損壞等現(xiàn)象。這些問題可能是由于以下原因造成的：
?被測(cè)設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位沒有良好的接地或屏蔽，導(dǎo)致靜電放電直接侵入內(nèi)部電路；?被測(cè)設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位有縫隙、孔洞等，導(dǎo)致靜電放電形成火花，產(chǎn)生強(qiáng)烈的輻射干擾；?被測(cè)設(shè)備的內(nèi)部電路沒有采用合適的保護(hù)器件，導(dǎo)致靜電放電造成器件損壞或性能下降；?被測(cè)設(shè)備的內(nèi)部電路沒有采用合理的布局、走線、濾波等措施，導(dǎo)致靜電放電造成信號(hào)干擾或噪聲；?被測(cè)設(shè)備的軟件沒有采用有效的檢測(cè)、處理、恢復(fù)等機(jī)制，導(dǎo)致靜電放電造成程序錯(cuò)誤或死循環(huán)。

8、靜電放電抗擾度測(cè)試有哪些整改方案？
針對(duì)上述可能出現(xiàn)的問題，可以采用以下一些整改方案：
?對(duì)被測(cè)設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位進(jìn)行良好的接地或屏蔽，防止靜電放電直接侵入內(nèi)部電路；

?對(duì)被測(cè)設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位進(jìn)行密封或覆蓋，防止靜電放電形成火花，產(chǎn)生強(qiáng)烈的輻射干擾；

?對(duì)被測(cè)設(shè)備的內(nèi)部電路采用合適的保護(hù)器件，如TVS管、ESD防護(hù)器件等，防止靜電放電造成器件損壞或性能下降；

?對(duì)被測(cè)設(shè)備的內(nèi)部電路采用合理的布局、走線、濾波等措施，減少靜電放電造成的信號(hào)干擾或噪聲；

?對(duì)被測(cè)設(shè)備的軟件采用有效的檢測(cè)、處理、恢復(fù)等機(jī)制，防止靜電放電造成程序錯(cuò)誤或死循環(huán)。(檢測(cè)試驗(yàn)找彭工136-9109-3503)