霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁?/h1>

發(fā)布人：錦正茂科技 時(shí)間：2024-08-14 來(lái)源：工程師

• 加入技術(shù)交流群
  • 
    掃碼加入
    和技術(shù)大咖面對(duì)面交流
    海量資料庫(kù)查詢(xún)

發(fā)布文章

霍爾效應(yīng)是電磁效應(yīng)的一種，霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的測(cè)量已成為研究半導(dǎo)體材料的主要方法之一?；魻栃?yīng)實(shí)驗(yàn)是指為了解霍爾效應(yīng)測(cè)量磁場(chǎng)原理而進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)。

實(shí)驗(yàn)的目的主要有：

1． 通過(guò)實(shí)驗(yàn)掌握霍爾效應(yīng)基本原理，了解霍爾元件的基本結(jié)構(gòu)；

2． 學(xué)會(huì)測(cè)量半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)、電導(dǎo)率、遷移率等參數(shù)的實(shí)驗(yàn)方法和技術(shù)；

3． 學(xué)會(huì)用“對(duì)稱(chēng)測(cè)量法”消除副效應(yīng)所產(chǎn)生的系統(tǒng)誤差的實(shí)驗(yàn)方法。

4． 學(xué)習(xí)利用霍爾效應(yīng)測(cè)量磁感應(yīng)強(qiáng)度及磁場(chǎng)分布。

儀器與裝置：霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀

霍爾效應(yīng)測(cè)試儀，是用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的，因此是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必*的工具。該儀器為性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、性?xún)r(jià)比高的霍爾效應(yīng)儀,在國(guó)內(nèi)高校、研究所及半導(dǎo)體業(yè)界擁有廣泛的用戶(hù)和zhi名度。儀器輕巧方便，易于攜帶。

可測(cè)試材料: 

半導(dǎo)體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料，低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料，高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等。

*博客內(nèi)容為網(wǎng)友個(gè)人發(fā)布，僅代表博主個(gè)人觀(guān)點(diǎn)，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系工作人員刪除。