香港科技大學(xué)在高交會中展示其RFID基準(zhǔn)測試技術(shù)研究成果

　　香港科技大學(xué)計算機(jī)科學(xué)及工程學(xué)系于第十一屆中國國際高新技術(shù)成果交易會中展示射頻識別技術(shù)基準(zhǔn)測試方法學(xué)的研究，并與商界交流及分享研究成果。

　　射頻識別技術(shù)基準(zhǔn)測試方法學(xué)的研究范疇廣泛，而「多天線多標(biāo)簽」測試研究則為其中一個應(yīng)用范圍，亦是該系在今屆交易會中所展示的主要項目。于展會期間，研究人員向在場參觀的廠商、學(xué)術(shù)界人士講解研究項目的目標(biāo)及研究過程，并分享研究測試中所遇的挑戰(zhàn)和所得的成果。研究小組期望把項目的研究結(jié)果和心得跟業(yè)界交流，以協(xié)助商界解決在應(yīng)用射頻識別技術(shù)上的問題，藉以鼓勵不同的業(yè)界使用射頻識別技術(shù)，推動技術(shù)的發(fā)展。

　　當(dāng)射頻識別技術(shù)應(yīng)用于商界作業(yè)時，經(jīng)常要面對同時使用多個天線及標(biāo)簽的實際操作環(huán)境，而「多天線多標(biāo)簽」的測試研究能夠模仿常見的射頻識別技術(shù)的應(yīng)用環(huán)境，測試使用多個天線及多個標(biāo)簽時的數(shù)據(jù)採集結(jié)果，以基準(zhǔn)測試方法來減少或消除各種能影響射頻識別設(shè)備的因素，從而掌握最優(yōu)的天線及貨品擺放位置。此外，在射頻識別技術(shù)的應(yīng)用上，技術(shù)的性能經(jīng)常受不同因素所影響，例如天線高度、標(biāo)簽密度、天線的數(shù)量、讀取距離、包裝等等。因此，「多天線多標(biāo)簽」測試研究能協(xié)助解決由環(huán)境、材料和設(shè)備所造成的限制，并確保所有的標(biāo)簽都能被正確地識別。

　　香港科技大學(xué)計算機(jī)科學(xué)及工程學(xué)系獲香港創(chuàng)新科技署及香港物流及供應(yīng)鏈管理應(yīng)用技術(shù)研發(fā)中心資助，致力于射頻識別技術(shù)的基準(zhǔn)測試研究，并推動技術(shù)在商界的廣泛應(yīng)用。今屆中國國際高新技術(shù)成果交易會于深圳會展中心舉行，展期為11月16日至21日。